一种多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件制造技术

本发明专利技术公开了一种多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件，包括附件仓体和样品固定压头，所述的附件仓体中空且顶面与底面平行，在附件仓体的侧面上开设有与附件仓体底面平行的光通道，在附件仓体顶面上设置有贯穿附件仓体顶面的透光孔，透光孔下方的光通道中安装第一红外反光镜和第二红外反光镜，透光孔上方设置样品固定压头，在样品固定压头和透光孔之间设置所述的样品台；所述样品台通过一个可旋转底座安装在附件仓体的顶面，在样品台的圆周上均匀设置有晶体。这样在所分析样品需用多种晶体模式测试时，实现了不用拆卸样品台即可快速切换晶体来进行样品分析。该发明专利技术不仅提高了分析效率，同时避免了频繁拆卸导致的样品台故障及稳定性降低等问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种红外光谱衰减全反射附件，更具体的说是一种多晶体整合型的、快速切换、应用灵活的红外光谱衰减全反射附件。
技术介绍
红外光谱仪作为应用广泛的分析仪器，其各种拓展应用的测量附件也为数众多。其中衰减全反射附件（以下称为ATR附件）是进行样品表面测试、针对不便使用常规方法制样或常规方法制样不能获得满意谱图信息的样品，如弹性体、薄膜等样品。ATR附件使用时是整体放入红外光谱仪样品仓的主光路上，使用红外反光镜将红外光引导至整合有特殊晶体的样品台，用样品固定压头使样品与晶体紧密接触。红外光在晶体与样品表面发生全反射，样品对红外光产生选择性吸收，从而采集到样品表面信息，获得样品的红外光谱图。红外光在样品表面的探测深度与附件晶体的折射率相关，且探测深度越深，检测信号越强。根据样品的性质和实验的需求应选择不同晶体的ATR附件进行测试，并且在样品性质未知的情况下需更换不同晶体的ATR附件做初探性试验，从而最终获得理想的谱图数据。目前，商品化的ATR附件供选择的晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件，包括第一红外反光镜（5）、第二红外反光镜（4）、样品台（9）和晶体（8），其特征在于：还包括附件仓体（7）和样品固定压头（10），所述的附件仓体（7）中空且顶面与底面平行，在附件仓体（7）的侧面上开设有贯穿附件仓体（7）并与附件仓体（7）底面平行的光通道，在附件仓体（7）顶面上设置有贯穿附件仓体（7）顶面的透光孔（2），透光孔（2）下方的光通道中安装所述的第一红外反光镜（5）和第二红外反光镜（4），透光孔（2）上方设置所述的样品固定压头（10），在样品固定压头（10）和透光孔（2）之间设置所述的样品台（9）；样品台（9）为圆形样品台（9），样品台（9）通...

【技术特征摘要】
1.一种多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件，包括第一红外反
光镜（5）、第二红外反光镜（4）、样品台（9）和晶体（8），其特征
在于：
还包括附件仓体（7）和样品固定压头（10），所述的附件仓体（7）
中空且顶面与底面平行，在附件仓体（7）的侧面上开设有贯穿附件
仓体（7）并与附件仓体（7）底面平行的光通道，在附件仓体（7）
顶面上设置有贯穿附件仓体（7）顶面的透光孔（2），透光孔（2）下
方的光通道中安装所述的第一红外反光镜（5）和第二红外反光镜（4），
透光孔（2）上方设置所述的样品固定压头（10），在样品固定压头（10）
和透光孔（2）之间设置所述的样品台（9）；
样品台（9）为圆形样品台（9），样品台（9）通过一个可旋转底
座（1）安装在附件仓体（7）的顶面，所述的晶体（8）设置多个并
均匀分布在样品台（9）的同一圆周上，且所述的透光孔（2）位于晶
体（8）所在的圆周的正下方。
2.如权利要求1所述的多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件，
其特征在于，所述的底座（1）为环形底座并固定在附件仓体（7）的
顶面，在底座（1）上设置有环形滑轨（14），在样品台（9）底部设
置有与所述的环形滑轨（14）配合的环形滑槽。
3.如权利要求1所述的多晶体整合型红外光谱衰减全反射附件，
其特征在于，所述的样品固定压头（10）通过固定架（11）安装在附
件仓体（7）的顶面上，样品...

【专利技术属性】
技术研发人员：王明，潘清，陈智群，郑朝民，苏鹏飞，李晓宇，宁艳利，高朗华，栾洁玉，张丽涵，胡银，
申请(专利权)人：西安近代化学研究所，
类型：发明
国别省市：