穿硅通孔与其形成方法技术

技术编号:9277865 阅读:80 留言:0更新日期:2013-10-24 23:58
本发明专利技术公开了一种穿硅通孔的结构,其包含一导电电极、一绝缘层以及一掺杂区。其中,导电电极设置于一基底中,导电电极会贯穿基底的一第一表面以及一第二表面。绝缘层设置于基底中,并包围所述导电电极。掺杂区设置于基底中,并包围所述绝缘层。本发明专利技术的穿硅通孔由于具有掺杂区包围在导电电极以及绝缘层中,故可以解决现有技术中漏电流以及杂讯过高的缺陷。本发明专利技术另外还提供了一种穿硅通孔的形成方法。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种穿硅通孔,其特征在于,包括:导电电极设置于基底中,其中所述导电电极贯穿所述基底的第一表面以及第二表面;绝缘层设置于所述基底中,并包围所述导电电极;以及掺杂区设置于所述基底中,并包围所述绝缘层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈逸男徐文吉叶绍文刘献文
申请(专利权)人:南亚科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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