信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法，能够一边抑制液晶的透射率变化一边减少反向倾斜畴。液晶装置的信号处理装置，基于对施加于像素的施加电压进行控制的信号，检测施加比第1基准电压低的第1电压的第1像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2像素的边界，将与包括第1像素的M个像素相对应的信号校正成比第1电压高且比第2电压低的第3电压，在第1期间作为所述M个像素的施加电压输出第3电压，在第2期间作为所述M个像素的施加电压输出第1电压，在第3期间作为所述M个像素的施加电压输出第3电压。

【技术实现步骤摘要】
信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法
本专利技术涉及减少液晶面板中的显示不良的技术。
技术介绍
液晶面板具有由按每个像素设置的像素电极和在多个像素共用设置的共用电极夹持液晶而成的结构。在这样的液晶面板中，由于在相互相邻的像素电极彼此产生的横向电场导致产生液晶的取向不良（反向倾斜畴，reversetiltdomain），有时这会成为显示不良的原因。抑制由于液晶的取向不良导致的显示不良发生的技术，在专利文献1以及专利文献2中有公开。专利文献1以及专利文献2公开了如下技术：使在横向电场强力施加的像素中的、由于液晶取向（无机取向膜）的蒸镀方向而容易发生画质不良的像素产生的横向电场减弱。【专利文献1】日本特开2009-237366号公报【专利文献2】日本特开2010-191157号公报但是，由于校正电压的施加产生的液晶元件透射率的变化量按其施加时间进行时间积分所得的值越大，由校正对象像素导致的显示内容的变化越容易被使用者感知。就专利文献1以及专利文献2公开的技术而言，可以认为，在校正对象像素中，历经与各影像信号相对应的整个显示期间对液晶元件施加一定的校正电压，所以由液晶元件的施加电压的校正导致的透射率变化变大，使用者容易感知到与原来的影像信号所规定的显示内容不同的显示内容。
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述的情况而完成的，其目的之一在于校正与各显示期间相对应的影像信号，以一边抑制由于校正电压的施加导致的每个显示期间的液晶元件的透射率变化，一边使反向倾斜畴减少。为了达成上述目的，本专利技术涉及的信号处理装置，其特征在于，用在具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备：检测部，其基于对施加于所述多个像素的各个的电压进行控制的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号相对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号相对应；校正部，其将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第3电压的第3信号，其中，M为1以上的整数；和输出所述信号的输出部，所述输出部，在第1期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号，在第2期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第1信号，在第3期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号。根据本专利技术，与第1像素的施加电压相应地成为反向倾斜畴的发生原因的横向电场的施加方式不同，所以通过在各显示期间的至少一部分施加与第1像素的施加电压相应的校正电压，能够一边抑制每个显示期间的液晶元件的透射率变化一边使反向倾斜畴减少。在本专利技术中，所述校正部也可以，将与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第4电压的第4信号，其中，N为1以上的整数，所述输出部进一步，在所述第1期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号，在所述第2期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第2信号，在所述第3期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号。根据本专利技术，能够将相邻的第1像素以及第2像素的各个向降低横向电场强度的方向校正，所以能够增大一边抑制由于第1像素以及第2像素的校正所致的影像信号的变化、一边减少反向倾斜畴的效果。本专利技术涉及的信号处理装置，其特征在于，用在具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备：检测部，其基于对施加于所述多个像素的各个的电压进行控制的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号相对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号相对应；校正部，其将与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第4电压的第4信号，其中，N为1以上的整数；和输出所述信号的输出部，所述输出部，在第1期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号，在第2期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第2信号，在第3期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号。根据本专利技术，与第2像素的施加电压相应地成为反向倾斜畴的发生原因的横向电场的施加方式不同，所以通过在各显示期间的至少一部分施加与第2像素的施加电压相应的校正电压，能够一边抑制每个显示期间的液晶元件的透射率变化一边使反向倾斜畴减少。在本专利技术中，也可以，所述第1像素的所述施加电压越高，所述校正部将该第1像素的所述校正电压降得越低。根据本专利技术，越是横向电场容易变强的第1像素，为了增大反向倾斜畴的降低效果越要提高校正电压，越是横向电场难以变强的第1像素，为了抑制显示内容的变化越要降低校正电压，所以能够很均衡地实现液晶元件的透射率变化的抑制和反向倾斜畴的降低。在本专利技术中，所述校正部也可以，将从与由所述检测部检测出的边界相接的所述第1像素向该边界的相反方向连续的M个像素的所述影像信号，校正成指定与该M个所述第1像素中的任一所述第1像素相应的所述校正电压的影像信号，其中，M为2以上的整数。根据本专利技术，在多个第1像素成为校正的对象的情况下，基于任一第1像素来设定校正电压，所以与按每个第1像素设定校正电压的情况相比，能够减少演算量。在本专利技术中，所述校正部也可以，对与所述第1像素相对应的所述影像信号进行校正，以使与所述第1像素的所述施加电压无关地，施加所述校正电压时的所述液晶元件的透射率遍及所述显示期间进行时间积分所得的积分透射率为第1阈值以下。根据本专利技术，通过使得液晶元件的透射率遍及显示期间进行时间积分后的积分透射率为第1阈值以下，能够在容易被使用者感知到的显示内容的变化没有发生的范围内，进行用于使反向倾斜畴减少的校正。在本专利技术中，也可以，所述第2像素的所述施加电压越低，所述校正部越提高该第2像素的所述校正电压。根据本专利技术，越是横向电场容易变强的第2像素，为了增大反向倾斜畴的降低效果越要降低校正电压，越是横向电场难以变强的第2像素，为了抑制显示内容的变化越要提高校正电压，所以能够很均衡地实现液晶元件的透射率变化的抑制和反向倾斜畴的降低。在本专利技术中，所述校正部也可以，将从与由所述检测部检测出的边界相接的所述第2像素向该边界的相反方向连续的N个像素的所述影像信号，校正成指定与该N个所述第2像素中的任一所述第2像素相应的所述校正电压的影像信号，其中，N为2以上的整数。根据本专利技术，在多个第2像素成为校正对象的情况下，基于任一第2像素来设定校正电压，所以与按每个第2像素设定校正电压的情况相比，能够减少演算量。在本专利技术中，所述校正部也可以对与所述第2像素相对应的所述影像信号进行校正，以使与所述第2像素的所述施加电压无关地，施加所述校正电压时的所述液晶元件的透射率遍及所述显示期间进行时间积分所得的积分透射率为第2阈值以上。根据本专利技术，通过使得液晶元件的透射率遍及显示期间进行时间积分所得的积分透射率变为第2阈值以上，能够在使用者容易感知的显示内容的变化没有发生的范围内，进行使反向倾斜畴减少的校正。在本专利技术中，所述校正部也可以，获取表示所述液晶元件的温度的信息，与获取的信息所示的温度相应地，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号处理装置，其特征在于，用在具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备：检测部，其基于对施加于所述多个像素的各个的电压进行控制的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号相对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号相对应；校正部，其将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第3电压的第3信号，其中，M为1以上的整数；和输出所述信号的输出部，所述输出部，在第1期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号，在第2期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第1信号，在第3期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号。

【技术特征摘要】
2012.03.27 JP 071904/20121.一种信号处理装置，其特征在于，用在具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备：检测部，其基于对施加于所述多个像素的各个的电压进行控制的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号相对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号相对应；校正部，其将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号，校正成施加M个第3电压的第3信号，所述M个第3电压中的各个电压均比所述第1电压高且比所述第2电压低，其中，M为大于1的整数，所述M个像素连续地配置在所述边界的与所述第1像素相同的一侧，所述M个第3电压中的各个电压彼此不同，且所述M个第3电压中的各个电压被分别施加于M个像素中的各个像素；和输出所述信号的输出部，所述输出部，在帧期间中的第1期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号，在所述帧期间中的第2期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第1信号，在所述帧期间中的第3期间作为与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号输出所述第3信号，选定所述M个第3电压中的各个电压，以使得遍及所述帧期间地对所述M个像素的透射率进行时间积分所得的积分透射率不超过一定的阈值。2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述校正部，在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压还低的情况下，将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号校正成施加M个第3电压的第3信号，所述M个第3电压中的各个电压均比所述第1电压高且比所述第2电压低。3.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述校正部进一步将与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第4电压的第4信号，其中，N为1以上的整数，所述输出部进一步，在所述第1期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号，在所述第2期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第2信号，在所述第3期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号，输出所述第4信号。4.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述校正部进一步获取表示液晶元件的温度的信息，与获取的信息所示的温度相应地使所述M个第3电压不同。5.一种液晶装置，其特征在于，具备权利要求1所述的信号处理装置。6.一种电子设备，其特征在于，具备权利要求5所述的液晶装置。7.一种信号处理装置，其特征在于，用在具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备：检测部，其基于对施加于所述多个像素的各个的电压进行控制的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号相对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号相对应；校正部，其将与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号，校正成施加N个第4电压的第4信号，所述N个第4电压中的各个电压均比所述第1电压高且比所述第2电压低，其中，N为大于1的整数，所述N个像素连续地配置在所述边界的与所述第2像素相同的一侧，所述N个第4电压中的各个电压彼此不同，且所述N个第4电压中的各个电压被分别施加于所述N个像素中的各个像素；和输出所述信号的输出部，所述输出部，在帧期间中的第1期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号，在所述帧期间中的第2期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第2信号，在所述帧期间中的第3期间作为与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号输出所述第4信号，选定所述N个第4电压中的各个电压，以使得遍及所述帧期间地对所述N个像素的透射率进行时间积分所得的积分透射率不超过一定的阈值。8.根据权利要求7所述的信号处理装置，其特征在于，所述校正部，在所述第2电压比高于所述第2基准电压的第4基准电压还高的情况下，将与包括所述第2像素的N个像素相对应的信号校正成施加N个第4电压的第4信号，所述N个第4电压中的各个电压均比所述第1电压高且比所述第2电压低。9.根据权利要求7所述的信号处理装置，其特征在于，所述校正部进一步将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号，校正成施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第3电压的第3信号，其中，M为1以上的整数，所述输出部进一步，在所述第1期间将与包括所述第1像素的M个像素相对应的信号校正成所述第3信号，在...

【专利技术属性】
技术研发人员：北川拓，保坂宏行，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：