一种测定固定金属亲和柱上金属离子吸附稳定参数的方法技术

本发明专利技术公开了一种测定固定金属亲和色谱柱上金属离子键合稳定性的评价方法，它包括环氧硅胶的制备、氨羧类螯合剂的制备和络合稳定常数与饱和吸附量的测定。将氨羧类色谱柱连接到色谱系统中，利用前沿色谱法在不同缓冲液体系下将不同浓度金属离子键合到氨羧类螯合剂上，当键合达到平衡时得到各自的突破曲线，利用Peakfit软件计算出各自的突破时间；根据突破时间计算出表观摩尔吸附量；将金属离子浓度、表观摩尔吸附量代入Langmuir吸附模型，即可测得固定金属离子在氨羧类螯合柱上的络合稳定常数与饱和吸附量。本发明专利技术快速，简单，可同时测得多个吸附参数，更加真实、准确地反映出固定金属离子在氨羧类螯合剂上的吸附稳定性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测定固定金属亲和柱上金属离子的络合稳定常数和饱和吸附量的方法，其特征在于：（1）将色谱柱连接到色谱系统上，在356?nm波长下得到NaNO2?缓冲溶液的空白突破曲线，所述的色谱柱装填有未键合金属离子的硅胶填料；（2）在步骤（1）色谱柱上，按照金属离子的特征吸收波长测得不同浓度的金属离子盐?缓冲溶液的突破曲线；（3）用Peakfit软件对步骤（1）和（2）中的突破曲线进行一阶微商处理，得到突破时间????????????????????????????????????????????????和，根据公式（I）计算金属离子达到吸附平衡时的表观摩尔吸附量，???????（I）式中：—达到吸附平衡...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李蓉，陈斌，陈晓丽，马晓迅，陈国亮，
申请(专利权)人：西北大学，
类型：发明
国别省市：