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光线寻迹方法与装置制造方法及图纸

技术编号:9254176 阅读:120 留言:0更新日期:2013-10-16 20:46
一种光线寻迹方法与执行相关方法的装置,其应用于一光学指示器上,其中光传感器取得各种反射光径中所产生的光建设性与破坏性干涉的图像作为移动方向判断的依据,而采用同调光源可以增强此干涉效应。该方法包括由感测芯片中各感应元接收到自表面反射的反射光,根据各感应元在一时间间隔前后接收的光线计算各感应元所接收的能量,并计算在此时间间隔前后所有或部分感应元的能量状态,此方法能够根据感应芯片中的感应像素在该时间间隔前后能量状态相对于采集时间前后统计平均值的变化判断一移动矢量。本发明专利技术可在各种样态的平面上仍具有寻迹的功能,适用于所有高反射或者很低反射率的平面上。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光线寻迹方法,其特征在于,包括:一感应芯片接收自一表面反射的一反射光,该感应芯片包括以几何对称形式排列的多个感应元;根据各感应元在一时间间隔前后接收的光线计算各感应元接收的能量;计算该时间间隔前后所有或部分感应元的能量状态;以及根据该感应芯片中的感应元在该时间间隔前后能量状态相对于采集时间前后统计平均值的变化,判断一移动矢量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张云山
申请(专利权)人:林大伟张云山
类型:发明
国别省市:

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