阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法技术

本发明专利技术公开了一种阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法，适用于红外焦平面探测器，包括如下具体步骤：1,设计包括背景滤光片、泄漏气体滤光片以及两片挡光片的阿基米德螺旋线滤光盘；滤光片和挡光片交替布设；2,利用该滤光盘推扫探测器，获得泄漏气体图像、背景图像和挡光图像A、B；3,将泄漏气体图像分别与A和B差分，差分结果取平均为去除盲元的泄漏气体图像；将背景图像分别与A和B差分，差分结果取平均为去除盲元的背景图像；4,使用A和B计算非均匀校正模型，对3中结果进行非均匀性校正；5,将校正后的泄漏气体图像和背景图像进行差分运算，获得最终图像。本发明专利技术适用于泄漏气体的差分红外成像。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法，该方法适用于读出方式为逐行读出的红外焦平面探测器，其特征在于，该方法包括如下具体步骤：步骤一、设计一个具有两个滤光片和两个挡光片的滤光盘；滤光盘上滤光片和挡光片的形状均由阿基米德螺旋线确定，且两滤光片和两挡光片沿滤光盘圆周方向交替布设；其中所述滤光片为背景滤光片和泄漏气体滤光片；所述背景滤光片透过的光谱范围不包含最强吸收峰λp，泄漏气体滤光片透过的光谱范围包含最强吸收峰λp，所述λp为待测泄漏气体在红外焦平面探测器工作波段内的最强吸收峰；所述两片挡光片的其中一片为高发射率挡光片，另一片为低发射率挡光片；步骤二、在利用红外焦平面探测器对待测泄漏气体进行红外成像时，利用所述具有4个滤光片的滤光盘对红外焦平面探测器进行推扫，则泄漏气体滤光片完全扫过红外焦平面探测器时获得泄漏气体图像，背景滤光片完全扫过红外焦平面探测器时获得背景图像，两片挡光片分别完全扫过红外焦平面探测器时获得挡光图像A和挡光图像B；步骤三、将泄漏气体图像分别与挡光图像A和挡光图像B进行差分运算，将两次差分运算的结果取平均获得去除盲元的泄漏气体图像；将背景图像分别与挡光图像A和挡光图像B进行差分运算，将两次差分运算的结果取平均获得去除盲元的背景图像；步骤四、对挡光图像A和挡光图像B进行灰度差异分析，获得非均匀校正模型，利用该非均匀校正模型对去除盲元的泄漏气体图像和去除盲元的背景图像分别进行非均匀性校正；步骤五、将校正后的泄漏气体图像和背景图像进行差分运算，获得最终图像。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王岭雪，薛唯，蔡毅，罗秀丽，唐璟，张世玉，高岳，张小水，王书潜，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：