电子显微镜用试样支架及试样观察方法技术

技术编号:9241418 阅读:320 留言:0更新日期:2013-10-10 05:24
不是环境控制式电子线装置,即使通常的电子线装置也能实现试样附近的局部低真空化与试样冷却,并且不对装置进行改造且不追加气缸等设备而只利用试样支架实现试样附近的局部低真空化与试样冷却。在能将成为气体源的物质收纳在内部的容器与在该容器的试样台下部具备贯通孔的试样支架上载置被观察试样,通过上述贯通孔将从上述容器蒸发或挥发的气体供给到上述被观察试样,在上述被观察试样的载置位置或试样附近形成局部的低真空状态。并且,利用在挥发时的气化热也能进行试样冷却。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:细谷幸太郎大野正臣波多野治彦
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:
国别省市:

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