一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种快速测试切换装置，设置于一TFT-LCD阵列基板上，用于切换对所述TFT-LCD阵列基板的显示区进行测试的信号，至少包括：第一切换TFT，其栅极连接一控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。本发明专利技术实施例还公开了一种相应的TFT-LCD阵列基板。实施本发明专利技术，有利于液晶面板窄边化，且可以提高TFT-LCD阵列基板的良率。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板
本专利技术涉及薄膜晶体场效应管液晶显示器（ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay，TFT-LCD）技术，特别涉及一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板。
技术介绍
TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并修复，该过程称为面板测试过程（celltest）。目前比较广泛应用的面板测试方式是，在栅级焊接区（Gatebondingpad）和源极焊接区（Sourcebondingpad）下方引入测试短棒（shortingbar）的设计，在面板测试结束后，将该测试短棒的走线采用激光切割（lasercut）的方式切断，但是这种测试电路由于设计了测试短棒，费用高且在面板上需要占用较大的空间，没办法实现面板的窄边框设计，例如在一种46寸的TFT-LCD中，其中，测试短棒及激光切割所需的走线所占的空间为630μm。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种快速测试切换装置及相应的TFT-LCD阵列基板，有利于液晶面板的窄边化，且能避免液晶面板在正常使用时出现的信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种TFT?LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，其特征在于，所述外围区域内设置有：多条数据测试线，分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号；多条栅线测试线，分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极；其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下，控制所述数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断。

【技术特征摘要】
1.一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有连接其内部的各TFT单元的栅线和数据线，其特征在于，所述外围区域内设置有：多条数据测试线，分别用于向显示区中各数据线发送数据测试信号；多条栅线测试线，分别用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；公共电极线，用于向显示区中各TFT单元提供公共电极；其中，在每一数据测试线及每一栅线测试线上均设置有快速测试切换装置，所述快速测试切换装置用于在外部的切换控制信号的控制下，控制所述数据测试线及栅线测试线与所述显示区的导通或切断；在所述每条数据测试线和栅线测试线的起端均设置有一个测试块，用于在对TFT-LCD阵列基板进行测试时，通过扎针将外部的测试信号传送到所述测试块上，然后传送到所述数据测试线或栅线测试线上；其中，所述快速测试切换装置包括：第一切换TFT，其栅极连接所述控制芯片及一测试块，用于接收来自所述测试块的切换控制信号或来自所述控制芯片的关闭控制信号，其源极连接一数据测试线或栅极测试线；第二切换TFT，其栅极连接所述第一切换TFT的栅极，其源极连接所述第一切换TFT的漏极，第三切换TFT，其栅极连接所述第二切换TFT的栅极，其源极连接所述第二切换TFT的漏极，其漏极连接所述显示区的对应的数据线或栅线。2.如权利要求1所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，进一步包括：控制芯片，其与所述快速测试切换装置相连，用于向所述快速测试切换装置发送一关闭控制信号，以使所述快速测试切换装置处于关闭状态。3.如权利要求2所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，所述控制芯片述所发送的关闭控制信号为一低电平信号或地。4.如权利要求3所述的TFT-LCD阵列基板，其特征在于，当所述第一切换TFT接收到来自测试块的切换控制信号为第一电平信号时，则各切换TFT...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕启标，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：