【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
双模折反射式共探测器成像系统,其特征在于,该系统包括:主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器;所有部件皆为同光轴放置;其中,主镜和次镜为卡塞格林结构;主镜有中心孔,次镜放置在主镜的前方,中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方;来自物方的光束经主镜反射后入射到次镜上,由次镜反射聚焦,使得目标成像在第一像面上;再由中继镜组将第一像面上的目标转像,通过焦平面探测器聚焦;次镜前表面反射中波红外,透射长波红外;后表面反射长波红外;长波红外再次通过前表面回到光路中。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:付强,张新,史广维,王灵杰,张建萍,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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