【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种芯片内部压降的测量装置，其特征在于，该装置包括：多级压控振荡器，用于将芯片内部压降转换为振荡信号，并且所述压控振荡器环振级数可选择多级、所述压控振荡器频率可配置；可调时间窗口控制模块，用于产生一个可调的时间窗口，控制所述压控振荡器在所述的时间窗口内工作；以及计数器，用于采样所述时间窗口内所述压控振荡器的振荡次数，并输出结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张译夫，秦石强，崔明艳，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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