一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法技术

一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法，涉及一种测量粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法。本发明专利技术提供一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法。方法：一、用标准源对热释光剂量探测器进行能量刻度和剂量标定；二、制肿瘤等效模型；三、在模型的上表面的圆心处加工一圆柱体孔洞；四、在以模型的上表面的中心为圆心的圆上对称加工孔；五、将标定后的探测器放入步骤四加工的孔中，将125I粒子源置于导管或支架内，再将导管或支架置于步骤三加工的圆柱体孔洞中，照射后取出125I粒籽源，分别探测器的实测值x，然后按以下公式计算吸收剂量。用于测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布的影响。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量125I粒子源置入支架或导管对剂量分布影响的方法，其特征在于该方法按以下步骤进行：一、用241Am标准源对热释光剂量探测器进行能量刻度和剂量标定；二、用CT值为1的有机玻璃制成实心圆柱体，作为肿瘤等效模型，模型大小为Φ直径70mm×高100mm；三、在肿瘤等效模型的上表面的圆心处加工一圆柱体孔洞，所述圆柱体孔洞的中心线与肿瘤等效模型的中心线重合；四、在以肿瘤等效模型的上表面的中心为圆心，以5～25mm为半径的圆上对称加工4个圆孔或4个方孔；五、将4个步骤一标定后的热释光剂量探测器依次放入步骤四加工的4个圆孔或4个方孔中，并进行编号，然后将1?5个125I粒子源置于导管或支架内，再将导管或支架置于步骤三加工的圆柱体孔洞中，照射0.5h取出125I粒籽源，分别测量4个热释光剂量探测器的实测值x，然后按以下公式计算吸收剂量D：其中D为吸收剂量，单位为cGy；f为吸收剂量转换因子，9.37×10?3mGy·mR?1；K为刻度因子，单位为计数/mR。FDA00003345686200011.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张慧，周巍，关世荣，梅雪松，王振超，庞杨，韩业辉，
申请(专利权)人：黑龙江省科学院技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：