一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种生成二维相位解缠质量图的方法，包括：将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据；对变换后的灰度等级数据进行分块，将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM)；采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差，得到二维相位解缠质量图。本发明专利技术同时公开了一种生成二维相位解缠质量图的装置，采用本发明专利技术的方法及装置，能生成稳定、有效的质量图，从而能正确地指导二维相位解缠，使得相位解缠结果更加可靠。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种生成二维相位解缠质量图的方法，其特征在于，该方法包括：将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据；对变换后的灰度等级数据进行分块，将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM)；采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差，得到二维相位解缠质量图；所述新型的熵差计算模型为：E=-Σk=0Ng-1PY(k)×log[PY(k)];PY(k)=Σi=1NgΣj=1Ngp(i,j,d,θ),G(|W(i~-j~)-W(i~-j~)‾|)=k,k=0,1,...,Ng-1;其中，E表示熵差，i、j表示两个像素的灰度级，d表示两个像素之间的距离，θ表示两个像素连线与横轴的夹角，W表示缠绕算子，表示未经量化的i值，表示未经量化的j值，G表示灰度级量化操作，p(i，j，d，θ)表示归一化GLCM元素。FDA00002915121000013.jpg,FDA00002915121000014.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：柳罡，邓云凯，王宇，李泓宇，陈润璞，邵云峰，袁志辉，李兴林，
申请(专利权)人：中国科学院电子学研究所，
类型：发明
国别省市：