【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
大规模集成电路加速器单粒子试验中粒子注量率选择方法，其特征在于步骤如下：（1）判断所述大规模集成电路内部是否采DICE设计，若采用了DICE设计，则按ASTM?F1192标准规定，对所述大规模集成电路采用高注量率辐照；否则进入步骤（2）；（2）通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用TMR，若采用了TMR，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则进入步骤（3）；（3）通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用EDAC，若采用了EDAC，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则对所述大规模集成电路采用高注量率辐照。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：于庆奎，罗磊，祝名，张磊，孙毅，唐民，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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