【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种系统级封装型半导体装置,其特征在于包括:基板;以倒装芯片方式连接在所述基板上的第一半导体元件;所述第一半导体元件与所述基板之间的底部填充部;配置在所述第一半导体元件上侧的至少1个第二半导体元件;以及覆盖所述第一半导体元件、所述底部填充部以及所述第二半导体元件的树脂密封部,所述底部填充部是由含有下述(A)成分至(C)成分的底部填充剂的硬化物所组成:(A)环氧树脂;(B)硬化剂,其量满足[所述(A)环氧树脂中的环氧基的当量/所述(B)硬化剂中的环氧基与反应性基团的当量]为0.7~1.2;以及(C)无机填充剂,相对于100重量份所述(A)环氧树脂,所述(C)无机填充剂为50重量份~500重量份,所述树脂密封部是由下述(a)成分至(c)成分所组成的树脂密封剂的硬化物所组成:(a)联苯基芳烷基型环氧树脂或者三苯基环氧树脂;(b)联苯基芳烷基型酚树脂或者三苯基酚树脂,其量满足[所述(a)联苯基芳烷基型环氧树脂或者三苯基环氧树脂中的环氧基的当量/所述(b)联苯基芳烷基型酚树脂或者三苯基酚树脂中的酚性羟基的当量]为0.8~1.2;以及(c)无机填充剂,相对于所述(a)联苯基芳烷基型环氧树脂或者三苯 ...
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:隅田和昌,加藤馨,下田太郎,
申请(专利权)人:信越化学工业株式会社,
类型:发明
国别省市:
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