【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种手持取双面抛光硅片的工具,特别是一种从双面抛光机大盘上取300mm及以上大尺寸硅片的手持取片工具。
技术介绍
半导体硅片是现代超大规模集成电路的主要衬底材料,一般通过拉晶、切片、倒角、磨片、腐蚀、抛光、清洗等工艺过程制造而成的集成电路级半导体硅片。为增加IC芯片产量,降低单元制造成本,硅片向大直径发展,主流从200mm向300mm的转变。由于大尺寸硅片的表面积较大,在抛光过程中几何参数难以控制,为了获得平坦的表面,大尺寸硅片的抛光过程中双面抛光代替单面抛光。在单面抛光过程中,一般使用有腊抛光,硅片通过有机腊贴在陶瓷板上进行抛光,抛光后可以通过自动设备使硅片脱离陶瓷板。但是双面抛光过程中硅片是放在游轮片中,抛完后一般需要手动取出。硅片在双面抛光后已经达到了镜面状态,此时在用手取片时会引起硅片边缘和表面划伤,从而极其严重地影响产品的收率。因此,为了从双面抛光机大盘上取下抛完的硅片而不带来划伤,就需要一种硅片取片工具。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种手持取双面抛光硅片的工具,该特别是经双面抛光后300mm及以上大尺寸硅片的取片工具,该手持取片工具结构简 ...
【技术保护点】
一种手持取双面抛光硅片的工具,其特征在于:它包括:手持部分,与手持部分连接的夹持部分,所述的夹持部分为同心圆上的两段弧,弧的横断面呈V形沟槽。
【技术特征摘要】
1.一种手持取双面抛光硅片的工具,其特征在于:它包括:手持部分,与手持部分连接的夹持部分,所述的夹持部分为同心圆上的两段弧,弧的横断面呈V形沟槽。2.按照权利要求书1所述的一...
【专利技术属性】
技术研发人员:库黎明,阎志瑞,索思卓,
申请(专利权)人:北京有色金属研究总院,有研半导体材料股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。