用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待检查物体中的结构位置的方法和评估设备制造方法及图纸

技术编号:9116880 阅读:185 留言:0更新日期:2013-09-05 06:09
在用于通过X射线计算机断层扫描装置确定位于待调查的物体中的结构位置的方法和评估设备中,从物体的体数据记录确定对切割平面中的物体进行成像的切割数据记录。二值化切割数据记录以形成二进制数据记录,在其中,确定对结构进行成像的结构体素(s)和对物体表面进行成像的表面体素(f)。为了确定所述位置,以如下方式产生距离数据记录(A):将表征从所述表面体素(f)到各个距离体素(a)的最小距离的距离值(w)分配到距离数据记录(A)的各个距离体素(a)。然后确定对应于结构体素(s)的距离体素(a)并评估相关联的距离值(w)。通过确定距离值(w)的最小值,例如可确定从活塞表面到冷却通道的最小距离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:S·奥克尔W·舍恩H·施奈尔G·穆勒I·帕帕多普洛斯
申请(专利权)人:马勒国际有限公司
类型:
国别省市:

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