芳烃树脂、光刻法用底层膜形成组合物以及形成多层抗蚀图案的方法技术

技术编号:9116338 阅读:154 留言:0更新日期:2013-09-05 05:24
目的是提供一种高碳浓度和低氧浓度的芳烃树脂,其可用作半导体用涂层剂或者抗蚀剂用树脂;提供一种用于形成光刻的底层膜的组合物,所述底层膜作为多层抗蚀工艺的底层膜具有优异的耐蚀刻性,提供一种由所述组合物形成的底层膜,以及提供一种使用所述底层膜形成图案的方法。本发明专利技术的特征在于在酸性催化剂的存在下,芳烃、芳族醛和酚衍生物反应从而得到芳烃树脂,所述芳烃树脂具有90-99.9质量%的高碳浓度和在丙二醇单甲醚乙酸酯中10质量%以上的溶解度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:东原豪内山直哉越后雅敏
申请(专利权)人:三菱瓦斯化学株式会社
类型:
国别省市:

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