适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳制造技术

技术编号:9113347 阅读:257 留言:0更新日期:2013-09-05 02:31
本发明专利技术公开了适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳,属于嵌入式IP核测试的技术领域。所述于片上网络嵌入式IP核的测试壳,包括并行输入端口、并行旁路寄存器、并行输出端口、串行输入端口、串行旁路寄存器、串行输出端口、测试控制寄存器、第一多路选择器、并行测试响应比较器、串行测试响应比较器、正确测试响应信号并行输入端口、正确测试响应信号串行输入端口。把测试激励和正确的测试响应同时送入待测IP核,以仅需一个数据子包就可以完成测试,对于多播传输模式可以有效减小传输数据量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳,包括并行输入端口、并行旁路寄存器、并行输出端口、串行输入端口、串行旁路寄存器、串行输出端口、测试控制寄存器、第一多路选择器,其特征在于,所述适用于片上网络嵌入式IP核的测试壳还包括并行测试响应比较器、串行测试响应比较器、正确测试响应信号并行输入端口、正确测试响应信号串行输入端口,其中:所述并行旁路寄存器输入端接并行输入端口;所述并行测试响应比较器第一输入端与正确测试响应信号并行输入端口连接,第二输入端接扫描链输出端,第三输入端接所述并行旁路寄存器输出端,输出端接所述并行输出端口;所述串行旁路寄存器输入端、测试控制寄存器输入端,分别与所述串行输入端口连接;所述串行测试响应比较器第一输入端与正确测试响应信号串行输入端口连接,串行测试响应比较器第二输入端接所述并行测试响应比较器的第二输入端,串行测试响应比较器第三输入端接所述串行旁路寄存器输出端;所述第一多路选择器的第一输入端接所述串行测试响应比较器输出端,第二输入端接所述测试控制寄存器输出端,输出端接所述串行输出端口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张颖吴宁叶云飞兰利东周芳葛芬
申请(专利权)人:南京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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