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一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法技术

技术编号:9110307 阅读:311 留言:0更新日期:2013-09-05 00:08
本发明专利技术公开了一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法,包括如下步骤:在高阻硅衬底上,通过磁控溅射六氮五铌薄膜作为缓冲层;在真空室中原位磁控溅射氮化铌薄膜。本发明专利技术在高阻硅衬底上,通过磁控溅射六氮五铌薄膜缓冲层,明显提高了氮化铌薄膜的超导性能,特别在超薄薄膜性能上提高更加明显。本发明专利技术也可推广到其他基片上提高氮化铌薄膜的超导性能,简单易行,效果明显。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种利用缓冲层优化硅衬底上氮化铌薄膜超导性能的方法,包括如下步骤:(1)在高阻硅衬底上,通过磁控溅射六氮五铌薄膜作为缓冲层;(2)在真空室中原位磁控溅射氮化铌薄膜。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:贾小氢康琳涂学凑顾敏杨小忠吴培亨
申请(专利权)人:南京大学
类型:发明
国别省市:

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