一种超饱和掺杂半导体薄膜的制备方法技术

技术编号:9087549 阅读:169 留言:0更新日期:2013-08-29 00:07
本发明专利技术公开了一种超饱和掺杂半导体薄膜的制备方法,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底;步骤2:将衬底表面清洗干净;步骤3:在较低的生长温度下,在衬底表面沉积半导体非晶薄膜;其中,通过控制原子的沉积速率比,得到超饱和掺杂的半导体非晶薄膜;步骤4:利用超快激光对所得的超饱和掺杂半导体非晶薄膜进行激光退火,完成超饱和掺杂半导体薄膜的制备。本发明专利技术提出的上述制备方法中,应用分子束外延技术制备掺杂浓度均匀的超掺杂薄膜,所制备出的超饱和掺杂硅薄膜内杂质的深度分布很均匀。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种超饱和掺杂半导体薄膜的制备方法,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底;步骤2:将衬底表面清洗干净;步骤3:在较低的生长温度下,在衬底表面沉积半导体非晶薄膜;其中,通过控制原子的沉积速率比,得到超饱和掺杂的半导体非晶薄膜;步骤4:利用超快激光对所得的超饱和掺杂半导体非晶薄膜进行激光退火,完成超饱和掺杂半导体薄膜。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王科范张华荣彭成晓曲胜春王占国
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:

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