热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法技术

本发明专利技术热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法，属于质谱分析技术领域，该热电离飞行时间质谱仪主要由离子源、离子传输系统和垂直反射式飞行时间质量分析器组成；使用该质谱仪，分析样品被点在离子源中固定在样品架上的灯丝带上，通过增加灯丝带电流使样品离子化，离子束经过离子传输系中的离子传输透镜组的传输与调制，到达垂直反射式飞行时间质量分析器中，不同质量的离子经过不同的飞行时间到达检测器，实现分析样品的定性、定量或同位素分析。本发明专利技术能够快速、准确测量同位素丰度并监测杂质元素，是一种创新的质谱分析技术。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种热电离飞行时间质谱仪，主体包括离子源(1)、离子传输系统(2)和垂直反射式飞行时间质量分析器(3)，离子源和离子传输系统通过一个气动阀(5)连接，离子传输系统与垂直反射式飞行时间质量分析器为一体的L型腔体，各设一个接口与外接同一分子泵连接；其中：所述离子源中装设有样品架(4)，分析样品在该样品架上被电离形成离子；所述离子传输系统中设有离子传输透镜组(6)，离子传输透镜组的入射口(21)通过气动阀与离子源连接，出射口(22)连通垂直反射式飞行时间质量分析器的透镜(8)；所述垂直反射式飞行时间质量分析器包括与透镜衔接的推斥加速区、与推斥加速区垂直设置的无场飞行区、与无场飞行区下部连接的反射区以...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：郭冬发，李金英，董晨，刘桂方，范增伟，谭靖，谢胜凯，
申请(专利权)人：核工业北京地质研究院，
类型：发明
国别省市：