同频周期信号相位差的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种同频周期信号相位差的测量方法，其包括以下步骤：S1，等间隔同步采样两个被测同频周期信号的W个采样数据；S2，获取两个被测同频周期信号的m1、m2次谐波的谐幅值A1k、A2k和谐相角S3，根据谐幅值A1k、A2k和谐相角计算两个被测同频周期信号的初相角和S4，根据两个初相角之差计算相位差本发明专利技术获得高精度的相位差测量结果，从而提高基于相位差技术的电力设备状态监测、信号采集与分析、通信、自动控制等领域仪器设备的质量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种同频周期信号相位差的测量方法，其特征在于，其包括以下步骤：S1，等间隔同步采样两个被测同频周期信号的W个采样数据；S2，对上述W个采样数据采用谐波分析方法获取一个被测信号的m1次谐波幅值A1k和初相角k=1,…,m1；同时，获取另一个被测信号的m2次谐波幅值A2k和初相角k=1,…,m2；S3，根据谐幅值A1k、A2k和谐相角计算两个被测同频周期信号的初相角和S4，根据两个初相角之差计算相位差FDA00003151749400011.jpg,FDA00003151749400012.jpg,FDA00003151749400013.jpg,FDA00003151749400014.jpg,FDA00003151749400015.jpg,FDA00003151749400016.jpg,FDA00003151749400017.jpg

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：傅中君，周根元，
申请(专利权)人：江苏理工学院，
类型：发明
国别省市：