【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种小尺寸固体样品热膨胀测量装置,用于测量被测样品(10)的受热膨胀变形程度;其特征在于:所述小尺寸固体样品热膨胀测量装置由下述几个部分组成:样品台(1)、反光片(3)、激光发射装置(4)、激光接收装置(5);其中:被测样品(10)布置在样品台(1)上,被测样品(10)一端的端部被限定在样品台(1)上且其位置不能变化,被测样品(10)的另一端的端部紧贴并顶紧在反光片(3)的背面,用于反射激光发射装置(4)发出的光的反光片(3)布置在样品台(1)上或者靠近样品台(1)布置;激光发射装置(4)和激光接收装置(5)都布置在反光片(3)的反光面一侧。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:沈明礼,朱圣龙,王福会,
申请(专利权)人:中国科学院金属研究所,
类型:发明
国别省市:
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