一种铀浓度的分析方法技术

本发明专利技术属于分析化学技术领域，公开了一种铀浓度的分析方法。该方法包括：(1)测量空白溶液在连续能量X射线照射下的透射谱，得到不同能量下铀溶液的入射光强度I0；(2)配制铀标准溶液并分别用步骤(1)所述的X射线照射，测量透射谱，得到各个铀标准溶液在LIII吸收边两侧不同能量下的透射光强度I；(3)计算出铀标准溶液在LIII吸收边两侧不同能量下的透射率T；(4)做出铀标准溶液LIII吸收边两侧lnln(T)～ln(E)的线性关系曲线并得到LIII吸收边处低能侧透射率T1和高能侧透射率T2；(5)求出铀的质量吸收系数突跃值Δμ；(6)将待测样品的ln(T1/T2)代入公式(4)，得到待测样品的浓度。本发明专利技术提供的方法操作简单、准确度高、操作成本低且能有效避免杂质干扰。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种铀浓度的分析方法，该方法包括以下步骤：(1)测量空白溶液在连续能量X射线照射下的透射谱，得到不同能量下空白溶液的透射光强度，空白溶液的透射光强度即为铀溶液的入射光强度I0；(2)配制铀标准溶液并用步骤(1)所述的X射线照射，测量透射谱，得到铀标准溶液在LIII吸收边两侧不同能量下的透射光强度I；(3)计算出铀标准溶液在LIII吸收边两侧不同能量下的透射率T；(4)做出铀标准溶液LIII吸收边两侧lnln(T)～ln(E)的线性关系曲线并得到LIII吸收边处低能侧透射率T1和高能侧透射率T2；(5)根据公式求出LIII吸收边处铀的质量吸收系数突跃值Δμ；(6)将待测样品的ln(T1/T2)代入步骤(5)所述的公式，得到待测样品的浓度；其特征在于，通过对一系列铀标准溶液进行透射谱测量并做出ρ～ln(T1/T2)的线性工作曲线求出Δμ，从而实现Δμ的多点校正。FSA00000671344900011.tif

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑维明，陈晨，刘桂娇，宋游，吴继宗，朱海巧，罗中艳，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：