本实用新型专利技术公开了一种基本测试模组，包括控制箱和立设于该控制箱一端上的盖板，所述控制箱靠近所述盖板的一端上设有测试排针治具，所述测试排针治具上设有调控平台，所述盖板上设有气缸组，所述气缸组位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块和位于该固定块下方的调整块，所述调整块上设有调整旋钮。本实用新型专利技术提供了一种基本测试模组，能够测试排针与待测板排线更加精密的贴合，大大提高了检测的稳定性，缩短了检测周期，不但提高了生产效率，而且提升了品牌价值。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种基本测试模组。
技术介绍
电路板作为电子行业中最重要的元器件，利用其作为核心部件制造出的产品广泛用于各种行业。电路板的种类多种多样，其上设有诸多错综复杂的电路，因此，电路板在生产出来以后，必须要经过严格的测试，才能应用于各种电器的生产制造上。传统的电路板进行测试时，将待测板置于测试区，利用人工移动调整的方法达到测试模组上的测试排针与待测板的测试排线相吻合的目的，进而进行精确的测试。由于人工操作时受到各种客观因素的影响，且上述的操作流程又相对精细，尤其是在夜间或者工人劳累的时候工作时，造成生产效率极其的低下，不但难以保证测试模组的测试效果，而且对生产测试模组厂家的信誉带来不好的影响。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供了一种基本测试模组，能够使测试排针与待测板排线更加精密的贴合，大大提高了检测的稳定性，缩短了检测周期，不但提高了生产效率，而且提升了品牌价值。为达到上述目的，本技术的技术方案如下:一种基本测试模组，包括控制箱和立设于该控制箱一端上的盖板，所述控制箱靠近所述盖板的一端上设有测试排针治具，所述测试排针治具上设有调控平台，所述盖板上设有气缸组，所述气缸组位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块和位于该固定块下方的调整块，所述调整块上设有调整旋钮。·优选的，所述气缸组的个数为两个，且每一个所述气缸组的一侧均设有导轨。优选的，所述调控平台与所述测试排针治具的个数均为两个。优选的，所述控制箱上方设置测试区。优选的，所述气缸组的下端连接有压紧块。通过上述技术方案，本技术提供的一种基本测试模组，通过设置气缸组和调控平台，测试时气缸组实现测试排针与待测板排线的上下对齐和压紧，调控平台实现测试排针与待测板排线左右的对齐，大大提高了排针与待测板排线的精确定位，使每一个待测产品都能很好的完成测试，从而减少了因为排针与待测板排线贴合不准确而造成的产品不良率，缩短了检测周期，达到同时提高生产效率和品牌价值的目的。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图1为本技术实施例所公开的一种基本测试模组的立体图；图2为本技术实施例所公开的一种基本测试模组的主视图；图3为本技术实施例所公开的一种基本测试模组调控平台的示意图。图中数字表示:1.盖板 2.控制箱 3.测试排针治具4.气缸组5.固定块 6.调整块 7.调整旋钮 8.导轨9.测试区 10.压紧块具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。如图1至图3所示，一种基本测试模组，包括控制箱2和立设于该控制箱2—端上的盖板1，所述控制箱2靠近所述盖板I的一端上设有测试排针治具3，所述测试排针治具3上设有调控平台，所述盖板I上设有气缸组4，所述气缸组4位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块5和位于该固定块5下方的调整块6，所述调整块6上设有调整旋钮7。其中，所述气缸组4的个数为两个，且每一个所述气缸组4的一侧均设有导轨8，所述调控平台与所述测试排针治具3的个数均为两个，所述控制箱2上方设置测试区9，所述气缸组4的下端连接有压紧块10。如图1至图3所示，实施时，将待测板固定于测试区9，调节调控平台上的调节旋钮，使测试排针和待测板上的排线相吻合，启动本技术所提供的测试模组，真空发生器开始工作，压力表检测真空值达到设定值时，气缸组4开始下降，测试排针与待测板的排线精确贴合，待测板与外面的其它设`备进行开短路测试。当测试完毕后，关闭测试模组，气缸组4上升，然后真空发生器关闭，完成一个工作周期。其中，气缸组4负责测试排针治具3上的测试排针的上下提升，并实现测试排针与待测板排线的上下对齐和压紧，执行排针与待测板排线的紧密贴合；导轨8负责机构导正、使动作更加顺畅，定位更加准确；调控平台是定位中的一个重要组成部分，提供一个可以左右调节的平台，便于精确定位；测试排针治具3用于固定排针，方便与待测板排线贴合。本技术提供的一种基本测试模组，通过设置气缸组4和调控平台，测试时气缸组4实现测试排针与待测板排线的上下对齐和压紧，调控平台实现测试排针与待测板排线左右的对齐，大大提闻了排针与待测板排线的精确定位，使每一个待测广品都能很好的完成测试，从而减少了因为排针与待测板排线贴合不准确而造成的产品不良率，缩短了检测周期，达到同时提高生产效率和品牌价值的目的。以上所述的仅是本技术所提供的一种基本测试模组的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。权利要求1.一种基本测试模组，包括控制箱和立设于该控制箱一端上的盖板，其特征在于，所述控制箱靠近所述盖板的一端上设有测试排针治具，所述测试排针治具上设有调控平台，所述盖板上设有气缸组，所述气缸组位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块和位于该固定块下方的调整块，所述调整块上设有调整旋钮。2.根据权利要求1所述的一种基本测试模组，其特征在于，所述气缸组的个数为两个，且每一个所述气缸组的一侧均设有导轨。3.根据权利要求1所述的一种基本测试模组，其特征在于，所述调控平台与所述测试排针治具的个数均为两个。4.根据权利要求1所述的一种基本测试模组，其特征在于，所述控制箱上方设置测试区。5.根据权利要求1所述的一种基本测试模组，其特征在于，所述气缸组的下端连接有压紧 块。专利摘要本技术公开了一种基本测试模组，包括控制箱和立设于该控制箱一端上的盖板，所述控制箱靠近所述盖板的一端上设有测试排针治具，所述测试排针治具上设有调控平台，所述盖板上设有气缸组，所述气缸组位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块和位于该固定块下方的调整块，所述调整块上设有调整旋钮。本技术提供了一种基本测试模组，能够测试排针与待测板排线更加精密的贴合，大大提高了检测的稳定性，缩短了检测周期，不但提高了生产效率，而且提升了品牌价值。文档编号G01R1/04GK203133122SQ20132000545公开日2013年8月14日 申请日期2013年1月7日 优先权日2013年1月7日专利技术者孙丰 申请人:苏州赛腾精密电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基本测试模组，包括控制箱和立设于该控制箱一端上的盖板，其特征在于，所述控制箱靠近所述盖板的一端上设有测试排针治具，所述测试排针治具上设有调控平台，所述盖板上设有气缸组，所述气缸组位于所述调控平台的上方，所述调控平台包括固定块和位于该固定块下方的调整块，所述调整块上设有调整旋钮。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙丰，
申请(专利权)人：苏州赛腾精密电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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