当前位置: 首页 > 专利查询>河海大学专利>正文

一种测量散粒材料流动压力的冲击试验装置制造方法及图纸

技术编号:8997469 阅读:173 留言:0更新日期:2013-08-02 18:11
本实用新型专利技术涉及一种测量散粒材料流动压力的冲击试验装置,包括试验台和发射高速子弹的发射架,且所述试验台上设置有夹具,所述夹具下半部分对称设有两个夹具通孔,所述夹具内部下方设置有下承压板,所述下承压板直径方向对称设有下承压板通孔,所述下承压板通孔与试验台之间设置有压力传感器,且所述下承压板通孔内各设置由压块,同时所述压块插入压力传感器内;所述夹具内部上方设置有上承压板,所述上承压板与发射孔之间设置有平行光源和测速器。本实用新型专利技术不仅能够检测散粒材料体系在冲击荷载作用下整体的应力与位移变化情况以及散粒材料底部某一区域应力变化情况,而且装置结构简单,成本低,易操作,并且可重复使用。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量散粒材料流动压力的冲击试验装置,属于散粒材料流动压力试验

技术介绍
由于散粒材料具有重要的工程意义,已经得到国内外专家学者的广泛关注,并且进行了大量的研究,主要分为静态和动态。在静态情况下,散粒材料的力学特性与连续材料相似,目前的研究大都集中在这个方面。动态情况因为涉及到冲击荷载而变得复杂,无法进行理论推导,只能采用试验研究和数值分析相结合的方法。散粒材料的试验研究主要有两个难点:一是散粒颗粒接触力的检测,二是冲击荷载如何施加到散粒材料。在散粒颗粒接触力检测方面,目前常用的接触式检测方法主要包括电子天平称重法和复写纸压痕方法。在冲击加载方面,现有的冲击加载试验均针对连续体,主要有落锤试验、霍普金森杆试 验和射弹试验。电子天平称重法是利用探针接触底层颗粒,通过电子天平的读数确定颗粒对底层的压力,平行移动探针可得到底层各个颗粒对底面的压力大小。虽然电子天平的精度有了很大的提高,但是由测量过程中需要移动装置位置,底层颗粒会不可避免地与接触面产生摩擦,从而导致颗粒内部力的重新分布,影响试验结果。复写纸压痕法是在颗粒底层与支撑面之间分别铺上显色灵敏的复写纸和白纸,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量散粒材料流动压力的冲击试验装置,其特征在于:包括试验台和发射高速子弹的发射架,所述发射架设置于试验台上,且所述试验台上设置有一钢制无底无盖圆柱形桶的夹具,所述夹具上半部分内壁直径大于下半部分内壁直径,且在夹具下半部分对称设有两个夹具通孔,所述夹具内部下方设置有钢制圆柱体的下承压板,所述下承压板直径方向对称设有两个圆柱形的下承压板通孔,所述下承压板通孔与试验台之间设置有压力传感器,所述压力传感器的导线通过夹具通孔牵出,且所述下承压板通孔内各设置一个沿下承压板通孔滑动的压块,同时所述压块穿过下承压板通孔插入压力传感器内;所述夹具内部上方设置有上承压板,且所述上承压板与发射架的发射孔相对设置...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王众刘军
申请(专利权)人:河海大学
类型:实用新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1