基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上；本实用新型专利技术补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白，利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率，可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布，还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量光纤面板、光学镜头的极限分辨率的光学仪器，具体涉及一种基于暗影补偿原理的分辨率的测试装置，属于光学领域。
技术介绍
光纤面板具有传光效率高，级间耦合损失小，传像清晰、真实，具有零厚度等特点。广泛的应用于各种阴极射线管、摄像管、CCD耦合及其他需要传送图像的仪器和设备中。光纤面板是实现光纤到桌面解决方案的用户终端产品，内部空间设计合理。因而逐渐走向一些家庭和工作区。光纤面板的好与坏与该面板的分辨率是分不开的，因此对其极限分辨率的参数也提出了测试需要。由于光纤面板在实际制造过程中各种不可控因素的影响(如红外响应、温度等)，光纤面板会产生一定数量的瑕疵点，称之为暗影，因此在测量光纤面板的分辨率时必须找出这些暗影点。目前国内还没有深入开展光纤面板暗影检测方法的研究，而系统测试光纤面板各个部分的极限分辨率的技术几乎为零。而对于检测光纤面板中暗影的检测有一种叫利用最优算子Canny算子实现暗影的检测。但该方案存在以下问题:DCanny算子是用数学模拟的方法去接近实际问题，其定位精度和宽度无法无法直观的描述。2) Canny算子的调用语句含有高斯滤波器参数标准差，低阈值和高阈值之比，高阈值占图像像素总数之比，几个参数不仅无法唯一确定，而且还存在一定人为因素。3)分辨图像中不仅存在加性噪声，还存在着乘性噪声，Canny算子无法解决乘性噪声。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本技术提供了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括:标准光源及其稳流源，聚光镜，积分球及其移动机构，分辨率靶，和CCD数据采集和微机处理系统，所述分辨率靶设置在所述积分球的均匀漫射出口上。进一步的，所述的标准光源为溴钨灯，稳流源为直流电源。进一步的，所述聚光镜为石英聚光镜。进一步的，所述标准光源距离所述聚光镜的距离小于聚光镜的焦距。进一步的，所述积分球是内部涂有漫反射性的白色涂料的空心球体。进一步的，所述移动机构是和所述积分球连在一起的金属滑台，其周边标有刻度。进一步的，待测光纤面板设置所述分辨率靶和所述积分球的均匀漫射出口之间。进一步的，还包括显微镜观察系统，该显微镜观察系统带有CCD接口，其物镜对准所述待测光纤面板。进一步的，还包括Z轴移动机构。本技术的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白，利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率，可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布，还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。与现有技术相比，本技术的有益效果如下:I)通过显微目视观察系统直接判断光纤面板不同区域的极限分辨力，比传统的方法更加直观，操作也相对简单；2)分辨率靶剔除暗影，解决了光纤面板分辨率测不准的问题；3)给出了光纤面板不同部分的极限分辨率的测量，可以精确的给出面板的暗影位置。附图说明图1是本技术的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器的结构示意图；图2为分辨率靶的截面图。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步说明。如图1所示，本技术的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器包括标准光源I及其稳流源2，聚光镜3，积分球4及其移动机构，分辨率靶5，显微镜观察系统6和Z轴移动机构7，CXD数据采集和微机处理系统8组成。所述的标准光源I及其稳流源2部分为一种溴钨灯和精度很高直流电源的光源系统，使光源输出光的强度与色温稳定。该标准光源I 一定要与外界光源隔绝，因此必须在一定温度下的暗箱中进行。所述的聚光镜3为石英聚光镜，其石英纯度较高，不易影响光的折射角。其离标准光源I 一固定距离设置，此距离小于聚光镜3的焦距，且光源沿光轴方向的投影恰在聚光镜3的中心上。所述的积分球4是内部涂有无波长选择性的(均匀)漫反射性的白色涂料的空心球体，积分球共有两个补偿口，其中一个为聚光镜3输出光入口，另一个为均匀漫射出口。积分球4设置在移动机构上，移动机构是和积分球紧紧连在一起的金属滑台，其周边均标有刻度，使积分球4可以顺利在X-Y平面内前后左右移动。待测光纤面板9和分辨率靶5紧贴在一起，其中分辨率靶5是标准分辨率靶，其分辨率条带宽度均匀，且明暗对比度在90%以上。所述的显微镜观察系统6为一种光学显微镜，该显微镜中带有C⑶接口，可以通过微机处理。显微镜的物镜对准待测光纤面板9。所述的Z轴移动机构7为一种调整显微镜焦距的外围辅助装置。所述的CXD数据采集和微机处理系统8包括CXD图像采集卡和微机平台，CXD图像采集卡位于显微镜的接口连接处，可将所观察到的像的模拟量转为数字量。微机可以对传送的数据进行综合处理，如暗影定位、参数设置、绘制图像、打印报表等操作。本技术的光路为标准光源I发出单色光经过聚光镜3，然后射入积分球4的一个补偿口，之后入射光在积分球内发生漫反射再从积分球的另一补偿口射出，再透射过待测光纤面板9，再从分辨率靶5到显微物镜，由显微物镜发射到目镜，最后再进入人的眼球。标准光源I和稳流源2提供2856K光具有强度与色温稳定的标准光，经过聚光镜3，由于聚光镜3的聚光作用，此时光源已被汇聚，再调节积分球4下移动机构的金属面板的XY坐标，使汇聚的光经过积分球的一个补偿口，进入积分球内部，积分球将光束均匀漫射后照明均匀漫射出口处的分辨率靶5。如图2所不，在任意时亥Ij,分辨率革巴5的电势与Z轴无关，可以化为二维问题来计算，因此靶内任意一点的电位Φ(^)必由二维拉普拉斯方程及相应的边界条件决定:本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），其特征在于：所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上。

【技术特征摘要】
1.一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括:标准光源(I)及其稳流源(2)，聚光镜(3)，积分球(4)及其移动机构，分辨率靶(5)，和CXD数据采集和微机处理系统(8)，其特征在于:所述分辨率靶(5)设置在所述积分球(4)的均匀漫射出口上。2.如权利要求1所述的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，其特征在于:所述的标准光源(I)为溴钨灯，稳流源(2)为直流电源。3.如权利要求1所述的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，其特征在于:所述标准光源(I)距离所述聚光镜(3)的距离小于聚光镜(3)的焦距。4.如权利要求1所述的基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，其特征在于:所述积分球(4...

【专利技术属性】
技术研发人员：张淑琴，陈亮，杨润光，金尚忠，杨琳，吴军法，徐珍宝，张林波，徐强，毛世挺，
申请(专利权)人：中国计量学院，
类型：实用新型
国别省市：