一种电子产品退化状态实时预测方法技术

本发明专利技术提供了一种电子产品退化状态实时预测方法，通过可靠性试验数据、现场性能退化数据，依据曲线拟合，现场性能退化数据外推当前运行电子产品在j+1时刻的预测值xj+1，依据自回归模型，根据每个时刻的可靠性试验数据，得到j+1个预测值：y1,y2,…,yj,yj+1，根据前j预测值的拟合曲线，外推得到j+1时刻的预测值y0j+1，计算差值Δj+1=y0j+1-xj+1，最后得到可靠性试验数据融合现场性能退化数据预测的结果zj+1=yj+1+Δj+1；根据得到预测值xj+1和zj+1时的误差大小为预测值xj+1和zj+1分配权值，最终根据权值将预测值xj+1和zj+1融合得到最终电子产品在j+1时刻的退化状态实时预测值。通过实验验证，本发明专利技术电子产品退化状态实时预测方法，基于差值修正算法，提高了电子产品退化状态预测的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子产品可靠性分析
，更为具体地讲，涉及。
技术介绍
目前，电子产品的日常维护、维修主要依赖于生产厂家，而且是以在出现故障之后进行现场维修的模式完成的，属于被动式故障排除，这导致了电子设备的技术含量日趋提高与使用维护的手段和能力相对较低的矛盾日益凸显。正是在这样的背景下，故障预诊断与健康管理(PHM)技术应运而生。其意义在于，可以提前预知将要发生故障的时间和位置，预测电子产品的剩余寿命(RUL)，提高电子产品的运行可靠性，减少日常维护成本。而对于PHM来说，通过预测技术，实时获取电子产品在未来时刻的退化状态是非常具有实际意义的。提前预知电子产品的性能退化量，就可以提前预知电子产品的可能发生故障的时间并且提前合理安排维护时间，可以很大程度上降低维护成本。电子产品退化状态实时预测方法多采用基于现场数据的预测方法，但电子产品退化状态预测的准确度有待提闻。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供，以提高电子产品退化状态预测的准确度。为实现以上目的，本专利技术电子产品退化状态实时预测方法，其特征在于，包括以下步骤:(I)、选取数量为N的同类电子产品(至少1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子产品退化状态实时预测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、选取数量为N的同类电子产品（至少10?15个），对每个电子产品从最初运行开始，每间隔一定时间提取数据测试点的信号幅值，得到N组由M个信号幅值组成的退化数据并作为产品性能退化的可靠性试验数据；对于当前运行的电子产品也从最初运行开始，每间隔一定时间ts提取测试点的信号幅值，当运行到j时刻时，得到由j个信号幅值组成的现场退化数据；（2）、对现场性能退化数据进行曲线拟合，根据拟合结果来选择最理想的拟合模型，根据拟合模型来外推当前运行电子产品在j+1时刻的预测值xj+1；（3）、将可靠性试验数据中同一个时刻的N个产品的信号幅值按顺序组成...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，宋辰亮，黄建国，龙兵，杨成林，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：