光谱响应度测量系统技术方案

本实用新型专利技术为一种光谱响应度测量系统，包括光源、光路传输装置、探测器、样品室、信号采集、处理和控制装置；光源采用紫外、可见、红外光三种光源组合设计，可实现较大的光谱测量范围；样品室外侧设有磁场及磁场调节装置，样品室中设有温度探测和控制装置，可模拟出低温、强磁场环境；该光谱响应度测量系统可以增加测量光谱响应度的光谱范围，同时具有变温、变磁场特性，能够在低温及强磁场环境下进行测量，克服了现有光谱响应度测量装置的局限性；同时，实现了光谱响应度测试全流程自动测量，可保持测量系统良好封闭，避免手动操作带来误差。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及探测器光谱响应度测量领域，尤其涉及一种在变温及变磁场环境下进行光谱响应度测量的系统。
技术介绍
光谱响应度是光探测器的重要技术参数之一，随着光探测技术的发展，精确测量光探测器的光谱响应度变得越来越重要。同时利用光探测器的光谱响应度对光探测器材料进行定性定量的分析，也成为研制新型光探测器的重要步骤。光电探测器的光谱响应度计量于1997年被国际光学计量组织CCPR (光度辐射咨询委员会)和BIPM (国际计量局)确定为光学计量领域的6项国际关键性比对之一。光谱响应度包括绝对光谱响应度和相对光谱响应度。其中绝对光谱响应度是光探测器的重要技术参数之一，它描述的是探测器绝对响应率与波长之间的关系。该参数的正确测试对于探测器的机理分析、工艺改进以及系统的整体设计有着重要的意义。目前国内研制的光谱响应度测量装置主要由光源系统、分光系统、输出光学系统、探测及数据采集系统和测量软件组成。光源系统只是分别设置单一的紫外或者可见或者红外光源，因此，现有光谱响应度测量装置的光谱测量覆盖范围及应用范围具有局限性，并且现有测量装置只能提供在自然条件下的光谱响应度测量，不能模拟低温，强磁场环境。以上这本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱响应度测量系统，其特征在于：该测量系统包括有旋转台，该旋转台由中心转座和环设于中心转座外侧的外圈转座构成；在旋转台一侧设有标准探测器组；在旋转台另一侧设有样品室，样品室内设置待测样品；所述中心转座上竖直设置一中心全反射镜；所述外圈转座上对应设有第一准直镜片组和第二准直镜片组；所述标准探测器组和待测样品分别与一信号转换器电连接，该信号转换器通过一锁相放大器连接于一计算机；所述样品室外侧设有磁场及磁场调节装置；样品室中设有温度探测和控制装置；一第一光源通过一第一光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的一反射面；一第二光源通过一第二光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的另一反射面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵昆，冯鑫，吕志清，陈少华，
申请(专利权)人：中国石油大学北京，
类型：实用新型
国别省市：