【技术实现步骤摘要】
本专利技术的实施例涉及安全检查，特别是涉及一种测量物质有效原子序数的方法和设备。
技术介绍
在X射线检查系统中，包括X射线源和相应的探测器，被检物体在两者中间。经过准直的X射线束通过被检物体到达探测器。探测器输出信号大小反应了到达探测器的X射线强度，解析该信号得到被检物体的信息。X射线与物质的相互作用方式主要有三种:光电效应、康普顿效应和电子对效应。光电效应的截面约与物质原子序数的四到五次方成正比。康普顿效应的作用截面大约与物质有效原子序数成正比。电子对效应的作用截面大约与物质有效原子序数的平方成正比。在X射线能量约低于0.5MeV时，光电效应占主导，或者有较大的作用截面，不同物质的质量衰减系数与其有效原子序数相关性较强。随着X射线能量的升高，在IMeV附近，康普顿效应占据主导。不同物质的质量衰减系数与其有效原子序数相关性较弱。当X射线能量高于约1.02MeV时，开始出现电子对效应，随着X射线能量越大，电子对效应截面逐渐越大。不同物质的质量衰减系数与其有效原子序数相关性也随着逐步增强。这样，可以采用两组不同能量的X射线束对物体进行检测，通过解析这两组X射线信号，...
【技术保护点】
一种测量物体的有效原子序数的设备，包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李树伟，陈志强，李元景，赵自然，刘以农，张清军，朱维斌，王义，赵书清，张文剑，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，清华大学，
类型：发明
国别省市：
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