本发明专利技术涉及一种密封测试装置，用于对灯具的密封圈进行不同压缩量测试，其包括密封体及密封盖；密封体一端封闭，另一端开口，且密封体沿密封体周向上设有用于容纳密封圈的密封槽和限位台阶；密封盖一端密封，另一端开口且在开口端设有与限位台阶配合的定位台阶，且密封盖的内壁周向设有不同内径的密封面。该测试装置通过在密封体上设计不同高度的限位台阶，再配合密封盖上的定位台阶和密封面，压缩量可调，对于具有一定硬度和线径的密封圈，选择不同的密封面进行密封性能测试，不同内径的密封面对应不同的压缩量，可以较为方便的确定密封圈的最优压缩量，减少在测试过程中重复设计密封条，可以较为简便的一次性确定密封圈的设计参数。
【技术实现步骤摘要】
密封测试装置本专利技术涉及灯具设计领域，尤其涉及一种密封测试装置。
技术介绍
对于防水灯具，尤其是IP67以上的灯具，其密封圈设计重点是密封圈线径、压缩量和硬度。传统的做法是先选定线径和硬度，再根据变化压缩量大小，选择具有合适密封性能的压缩量参数，从而最终确定设计参数。但传统的密封测试装置的压缩量固定，测试时需要更换测试装置，操作复杂。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种密封测试操作较为简单的密封测试装置。一种密封测试装置，用于对灯具的密封圈进行不同压缩量测试，其包括密封体及密封盖；所述密封体一端封闭，另一端开口，且所述密封体沿密封体周向上设有用于容纳所述密封圈的密封槽和沿密封体周向分布的限位台阶；所述密封盖一端密封，另一端开口且在开口端设有与所述限位台阶配合的定位台阶，且所述密封盖的内壁周向设有不同内径的密封面。优选的，所述密封槽在靠近所述密封体的开口端设置。优选的，所述密封体及所述密封盖为圆筒状，所述密封槽沿所述密封体的周向设置。优选的，所述密封面的宽度与所述限位台阶及所述定位台阶的高度一致。优选的，所述密封面的内径从靠近所述密封盖的开口端至所述密封盖的密封端依次递减设置。优选的，所述密封体包括设有限位台阶的外筒和设有密封槽的内筒，所述外筒套设在所述内筒上。优选的，所述内筒在对应每个限位台阶处设有限位孔，所述密封盖最低的定位台阶上设有与所述限位孔配合的定位孔，所述密封测试装置还包括与所述限位孔和所述定位孔配合的用于所述密封盖定位的定位柱。优选的，所述限位孔在所述内筒的外壁开设但不贯穿所述内筒的筒壁。优选的，所述外筒与所述内筒一体成型。优选的，所述密封测试装置为不锈钢、铝合金或青铜材质。该密封测试装置通过在密封体上设计不同高度的限位台阶，再配合密封盖上的定位台阶和密封面，压缩量可调，对于具有一定硬度和线径的密封圈，选择不同的密封面进行密封性能测试，不同内径的密封面对应不同的压缩量，可以较为 方便的确定密封圈的最优压缩量，从而可以减少在测试过程中重复设计密封条，可以较为简便的一次性确定密封圈的设计参数。附图说明图1为一实施方式的密封测试装置对密封圈测试的装配剖视图。图2为图1密封测试装置的密封体的结构示意图；图3为图1密封测试装置的密封盖的结构示意图；图4为密封盖的剖视图。具体实施方式下面主要结合附图及具体实施例对密封测试装置作进一步详细的说明。如图1所示，本实施方式的密封测试装置100主要用于灯具的密封圈200进行不同压缩量测试，从而选择对应特定硬度和线径的密封圈200的最优压缩量或者选择在特定压缩量下的密封圈200的最优硬度和线径。该密封测试装置100主要包括密封体110和密封盖120。如图2所示，密封体110大致呈圆筒状，一端封闭，另一端开口。密封体110上设有用于容纳密封圈200的密封槽111和沿密封体110周向分布的限位台阶112。密封槽111在靠近密封体110的开口端设置。限位台阶112在密封体110的轴向具有不同的高度，且为操作方便，各限位台阶112依次等高度设置，例如可以顺时针(开口端朝上)升高或降低等。在其他实施方式中，各限位台阶112可以不需要等高度设置。 优选的，本实施方式的密封体110由外筒113和内筒114配合构成。外筒113 —端封闭，另一端套设内筒114。内筒114两端开口，其中一端固定在外筒113上,另一开口端边缘设置密封圈200。外筒113的外径大于内筒114的外径。限位台阶112设置在外筒113上。进一步优选的，外筒113与内筒114的外径差与限位台阶112的宽度一致。为达到较好的密封性能，外筒113与内筒114优选一体成型。内筒113上对应每个限位台阶112设有用于限位孔115。各限位孔115沿内筒114的轴向等高度设置，且相邻限位孔115的高度差与对应的相邻限位台阶112的高度差一致。为保证密封测试装置100的密封性能，本实施方式的限位孔115从所述内筒114的外壁开设但不贯穿内筒114的筒壁。如图3所示，密封盖120用于与内筒114套设，配合对密封圈200进行压缩量测试。密封盖120大致呈圆筒状，一端封闭，另一端开口。如图4所示，密封盖120的内壁周向设有不同内径密封面122。优选的，密封面122的内径从靠近密封盖120的开口端至封闭端依次递减，且密封面122的宽度与限位台阶112的高度一致。不同内径的密封面122对应不同的压缩量，从而对应不同的密封等级。本实施方式的密封盖120在开口端设有与限位台阶112配合的定位台阶124。定位台阶124沿圆筒状密封盖120的周向设置，相邻定位台阶124的高度差(定位台阶124的高度)与相邻限位台阶112的高度差(限位台阶112的高度)一致。密封盖120在最低定位台阶124上设有用于与各限位孔115配合的定位孔126。定位孔126贯穿密封盖120的筒壁。请结合图1，相应地，密封测试装置100还包括有与限位孔115和定位孔126配合的用于密封盖120定位的定位柱130。定位柱130通过定位孔126插入限位孔115中用于将密封盖120定位在合适的限位台阶112上。限位孔115及定位孔126可以为插孔或螺孔，相应的定位柱130可以为插销或螺钉等。进一步优选的，为保证密封测试装置100的密封性能，该密封测试装置100还可以包括有与定位柱130适配的密封垫等元件(图未示)。当需要测定密封圈200在不同压缩量下的密封性能时，首先将密封圈200置于密封槽111中，再依次将密封盖120从最大内径的密封面122依次到最小内径的密封面122与密封圈200配合密封，由于密封面122的宽度与限位台阶112的高度一致，定位台阶124的高度与限位台阶112的高度一致，操作时，只需要转动密封盖120将最低的定位台阶124定位至不同高度的限位台阶112上即可，再测试整个系统(密封测试装置100与密封圈200)的密封性能，由于不同内径的密封面122对应不同的压缩量，不同的压缩量对应不同的密封等级，从而选择具有最优压缩量的密封面122对应的压缩量作为设计参数，配合密封圈200的硬度和线径参数进行密封圈200的生产。本实施方式的密封测试装置100为不锈钢材质，在其他实施方式中，还可以为铝合金、青铜等刚性材质。该密封测试装置100通过在密封体110上设计不同高度的限位台阶112，再配合密封盖120上的定位台阶124和密封面122，压缩量可调，对于具有一定硬度和线径的密封圈200，选择不同的密封面122进行密封性能测试，不同内径的密封面122对应不同的压缩量，可以较为方便的确定密封圈200的最优压缩量，从而可以减少在测试过程中重复设计密封条，可以较为简便的一次性确定密封圈200的设计参数。以上所述实施例仅表达了本专利技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本专利技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。因此，本专利技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种密封测试装置，用于对灯具的密封圈进行不同压缩量测试，其特征在于，包括密封体及密封盖；所述密封体一端封闭，另一端开口，且所述密封体沿密封体周向上设有用于容纳所述密封圈的密封槽和限位台阶；所述密封盖一端密封，另一端开口且在开口端设有与所述限位台阶配合的定位台阶，且所述密封盖的内壁周向设有不同内径的密封面。
【技术特征摘要】
1.一种密封测试装置，用于对灯具的密封圈进行不同压缩量测试，其特征在于，包括密封体及密封盖；所述密封体一端封闭，另一端开口，且所述密封体沿密封体周向上设有用于容纳所述密封圈的密封槽和限位台阶；所述密封盖一端密封，另一端开口且在开口端设有与所述限位台阶配合的定位台阶，且所述密封盖的内壁周向设有不同内径的密封面。2.如权利要求1所述的密封测试装置，其特征在于，所述密封槽在靠近所述密封体的开口端设置。3.如权利要求1或2所述的密封测试装置，其特征在于，所述密封体及所述密封盖为圆筒状，所述密封槽沿所述密封体的周向设置。4.如权利要求1所述的密封测试装置，其特征在于，所述密封面的宽度与所述限位台阶及所述定位台阶的高度一致。5.如权利要求1所述的密封测试装置，其特征在于，所述密封面的内...
【专利技术属性】
技术研发人员：周明杰，罗志祥，
申请(专利权)人：海洋王照明科技股份有限公司，深圳市海洋王照明工程有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。