一种用于批量电子元器件测试的测试板制造技术

技术编号:8846201 阅读:247 留言:0更新日期:2013-06-23 19:08
本实用新型专利技术涉及用于批量电子元器件测试的测试板,包括:安装在测试板表面上的多组测试部,每组测试部用于一种类型的电子元器件,每组测试部中的每个测试部具有:用于安置待测电子元器件的凹槽;凹槽两侧与待测元器件的两个电极分别相对的两个电接触件;和连接在测试板表面上的两个调节装置,一个调节装置与一个电接触件连接,用于使得该一个电接触件在常态下与相应测试部中的待测电子元器件电接触并且在放置或取出待测电子元器件时使得该一个电接触件离开该待测电子元器件。该测试板还包括接触部,从接触部向该多组测试部引出多对电连接线,其中一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应,用于向该插槽中的待测电子元器件加电。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试领域,更具体地涉及一种用于批量电子元器件测试的测试板
技术介绍
在石油勘探开采行业中使用的仪器往往包含大量不同种类的电子元器件,而且由于石油勘探开采所面临的环境,这些电子元器件往往需要经历高温、低温等特殊环境。为此需要在组装仪器之前对所使用的各种类型的电子元器件(例如电阻器、电容器、电感器等)进行高低温检测、筛选。目前市场上的电子元器件检测设备所配备的测试板,都是单一的对一个或几个同类元器件进行检测,当测试其它种类的元器件时,需要重复测试步骤。这存在着兼容性差,操作繁琐的问题,尤其是在元器件数量多的时候,需要耗费大量的人力和时间。考虑到上述原因,存在能够实现对不同种类的电子元器件进行老化测试的装置的需求。
技术实现思路
本技术涉及一种用于批量电子元器件测试的测试板,其特征在于包括:安装在该测试板表面上的多组测试部,每组测试部用于--种类型的电子元器件,其中,每组测试部中的每个测试部均具有:用于安置待测电子元器件的凹槽;凹槽两侧 与待测电子元器件的两个电极分别相对的两个电接触件;和连接在该测试板表面上的两个调节装置,一个调节装置与一个电接触件连接,用于使得该一个电接触件在常态F处于工作位置并且在放置或取出待测电子元器件时处于回退位置,其中工作位置使得该一个电接触件与相应测试部中的待测电子元器件电接触,回退位置使得该一个电接触件离开该待测电子元器件;接触部,从接触部向该多组测试部引出多对电连接线,其中-一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应,用于向该插槽中的待测电子元器件加电。优选地,该多组测试部至少包括两组,分别用于测试贴片电阻器、贴片电容器以及贴片电感器中的至少两种。 优选地,每组测试部包括多个测试部,其中各个测试部中的凹槽尺寸彼此不同,用于放置不同尺寸的待测电子元器件。优选地,该每个测试部具有多个凹槽,每个凹槽之间设置有挡板。优选地,该每个测试部的电接触件包括连接部和从连接部伸出的具有弹性的金属片,在测试时,该金属片利用弹力压紧在对应待测电子元器件的相应电极上。优选地,该调节装置为F端固定在测试板表面而上端自由的弹性片,并且其上具有突出部,在常态下该突起部抵着对应的电接触件,使其处于工作位置;当需要放置或取出待测电子元器件时,上端被向远离待测电子元器件的方向扳动,从而突出部带动所连接的电接触件移动,使其处于回退位置。优选地,该调节装置包括固定在测试板表面上的第一弹性部件,支撑在第一弹性部件上的按压部件1225以及第二弹性部件,其中,按压部件在远离测试板表面的方向上依次具有下部、过渡部以及上部,该下部和上部面对待测电子元器件的表面为平面,而过渡部面对待测电子元器件的表面为平滑坡面,并且其中,在按压部件在该面对待测电子元器件的的表面上设有卡槽,第二弹性部件一端滑动卡接在该卡槽内,另一端与对应的电接触件相连,在常态下该第二弹性部件被压缩地连接在按压部件的下部与对应电接触件之间,使该电接触件处于工作位置;当需要放置或取出待测电子元器件时,按压部件被朝着测试板表面的方向按压,第一弹性部件被压缩,第二弹性部件顺着卡槽从下部经过过渡部移动到上部从而被释放,由此带动所连接的电接触件移动,使其处于回退位置。优选地,所述第一、第二弹性部件为弹簧。优选地,所示测试板为PCB板,所述多对电连接线均布线在PCB板内部。本技术具有如F益处:其可以实现对不同种类、不同规格的电子元器件批量同时测试。因而,具有操作简便,兼容性好的优势。同时,安装元器件也非常方便,尤其是小型的贴片电阻器、电容器以及电感器。附图说明为了更好地理解本技术并且示出如何使其生效,现在将通过示例来参考附图,其中:图1a示出了测试板的俯视图示意图;图1b示出了沿图1a的线AA’截取的部分界面图2a、2b示出分别电接触件处于工作位置和回退位置的示意图;以及图3a、3b分别示出实现本技术中的调节装置的两个实施例。具体实施方式下面,参考附图描述本技术的实施例的一个或多个方面,其中在整个附图中一般用相同的参考标记来指代相同的元件。在下面的描述中,为了解释的目的,阐述了许多特定的细节以提供对本技术实施例的一个或多个方面的彻底理解。然而,对本领域技术人员来说可以说显而易见的是,可以利用较少程度的这些特定细节来实行本技术实施例的一个或多个方面。另外,虽然就一些实施方式中的仅一个实施方式来公开实施例的特定特征或方面,但是这样的特征或方面可以结合对于任何给定或特定应用来说可能是期望的且有利的其它实施方式的一个或多个其它特征或方面。图1a示出了本技术所涉及的测试板的俯视示意图。图1b为沿图1a的线AA’截取的部分界面图。测试板10包括安装在该测试板表面上的多组测试部。图中示意性地示出了三组,分别为第一组 IOO1, IOO2-;第二组 100,1; 100,2...;第三组 100,,1; 100” 2…。每组测试部用于一种类型的电子元器件,例如第一组测试贴片电阻器、第二组测试贴片电容器、第三组测试贴片电感器等等。实际上,还可以包括更多组测试部。但需要注意,至少为两组,以实现测试至少两种不同类型的电子元器件的目的。每组测试部中的每个测试部均具有用于安置待测电子元器件的凹槽105。凹槽的深度取决于待测电子元器件的尺寸。优选地,每个测试部具有多个尺寸相同的凹槽,用于同时测量相同规格的电子元器件(例如,相同尺寸的贴片电阻器)。在这种情况下,进一步优选地,每个凹槽之间设置有挡板130,用于在测量时,待测电子元器件之间不互相干扰,尤其是在交变情况下测量电容器和电感器的情况下尤其如此。另外,优选地,为了测试不同规格尺寸的电子元器件,每组测试部可以包括多个测试部,一个测试部中的凹槽的尺寸不同于其它测试部中的凹槽尺寸,在设计时,可以针对几种具体工作中常用的规格尺寸的电子元器件设计凹槽的尺寸。这样,提高了测试的灵活性。每个测试部还包括凹槽两侧与待测电子元器件的两个电极(图2中为阴影部分)分别相对的两个电接触件Iis1Uis2t5在一个实施例中,该电接触件可以为一个表面平坦的金属片,在测试时,一对金属片IIS1U IS2挤住或压住待测电子元器件,金属片各自面接触相应的电极。在另外的实施例中,电接触件包括连接部135和从连接部伸出的具有弹性的金属片136,在测试时,如果由于公差的原因,所测试的元器件高度略有差别,则该金属片能够利用弹力仍能够压紧在相应电极上。每个测试部还包括连接在该测试板表面上的两个调节装置120。由于调节装置120的形状可以具有多种,故在图1aUb中均以示意的形式绘出,具体形状在图3中描述。一个调节装置与一个电接触件连接,用于使得该一个电接触件在常态下(如图2a所示)处于工作位置并且在放置或取出待测电子元器件时处于回退位置(如图2b所示),其中工作位置使得该一个电接触件与相应测试部中的待测电子元器件电接触,回退位置使得该一个电接触件离开该待测电子元器件。在一个实施例中,如图3a所示(类似于截面图),该调节装置120为F端1205固定在测试板表面而上端1210自由的弹性片,并且其上具有突出部1215,在常态下该突起部抵着对应的电接触件(以IlS1为例),使其处于工作位置;当需要放置或取出待测电子元器件时,上端1210被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于批量电子元器件测试的测试板(10),其特征在于包括:安装在该测试板表面上的多组测试部(1001,1002…),每组测试部用于一种类型的电子元器件,其中,每组测试部中的每个测试部均具有:???????用于安置待测电子元器件的凹槽(105);???????凹槽两侧与待测电子元器件的两个电极(1101、1102)分别相对的两个电接触件(1151、1152);和???????连接在该测试板表面上的两个调节装置(120),一个调节装置与一个电接触件连接,用于使得该一个电接触件在常态下处于工作位置并且在放置或取出待测电子元器件时处于回退位置,其中工作位置使得该一个电接触件与相应测试部中的待测电子元器件电接触,回退位置使得该一个电接触件离开该待测电子元器件;接触部(125),从接触部向该多组测试部引出多对电连接线,其中一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应,用于向该插槽中的待测电子元器件加电。

【技术特征摘要】
1.一种用于批量电子元器件测试的测试板(10),其特征在于包括: 安装在该测试板表面上的多组测试部(1001,1002 ),每组测试部用于一种类型的电子元器件,其中,每组测试部中的每个测试部均具有: 用于安置待测电子元器件的凹槽(105); 凹槽两侧与待测电子元器件的两个电极(1101,1102)分别相对的两个电接触件(1151,1152);和 连接在该测试板表面—t的两个调节装置(120),一个调节装置与一个电接触件连接,用于使得该一个电接触件在常态下处于工作位置并且在放置或取出待测电子元器件时处于回退位置,其中工作位置使得该一个电接触件与相应测试部中的待测电子元器件电接触,回退位置使得该--个电接触件离开该待测电子元器件; 接触部(125),从接触部向该多组测试部引出多对电连接线,其中一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应,用于向该插槽中的待测电子元器件加电。2.如权利要求1所述的测试板(10),其特征在于该多组测试部至少包括两组,分别用于测试贴片电阻器、贴片电容器以及贴片电感器中的至少两种。3.如权利要求2所述的测试板(10),其特征在于每组测试部包括多个测试部,其中各个测试部中的凹槽尺寸彼此不同,用于放置不同尺寸的待测电子元器件。4.如权利要求1所述的测试板(10),其特征在于该每个测试部具有多个凹槽,每个凹槽之间设置有挡板(130)。5.如权利要求1所述的测试板(10),其特征在于该每个测试部的电接触件包括连接部(135)和从连接部伸出的具有弹性的金属片(136),在测试时,该金属片利用弹力压紧在对应待测电子元器件的相应电极...

【专利技术属性】
技术研发人员:毛岩刘喆贾文耀王雷申晶晶陈文柳建国梁爽
申请(专利权)人:中国石油集团长城钻探工程有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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