【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于科学测试
，涉及一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法。
技术介绍
荧光发光技术通常利用材料受激发后的发光波长变化，比如LED光致发光材料及太阳能电池的上转换材料。在硅基紫外探测技术中，发光薄膜可以将高能量的光子转换为数量较多的低能量光子，因此可以将探测器响应拓宽到紫外波段。转换效率CE(ConVerSionEfficiency)是衡量上述转换发光过程的一个重要参数。转换效率现有两种传统的测试方法，一种是通过测量量子效率的方法来计算转换效率，采用对每一个入射的光子所能产生和收集的电子数来计算，虽然不需要引入参数，但由于需要把反射损失而不能透射到硅片的光子、光电转化、电子和光子的传输效率的变化、转化电流的效率等考虑进去，计算过程复杂，且会带来很大的计算误差。另一种是采用光功率计直接接受荧光光子，虽然省去了光电转换这一环节，克服了第一种方法的缺点，但是，为了克服光功率计探测面积小而导致收集荧光不全的缺点，在计算总的发射能量时引入了一个修正因子以修正荧光收集不全的问题，把下转换发光薄膜发射出来的荧光近似认为是各向同性的球面波，忽略了荧光发射角的影响，而实际发出的荧光并非各向同性，所以，弓丨入修正因子计算总的发射光能量给测试结果也会带来一定的误差。上述测量方法不能很好的实现荧光发光薄膜的转换效率的测量要求。
技术实现思路
针对现有测试技术的缺陷，本专利技术公开了一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，本专利技术的目的是采用紫外可见分光光度计附件积分球进行测量，通过积分球来收集荧光，既省去了光电转换这一环节，也避免了在光功率计上，由于荧光发射角的存...
【技术保护点】
一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，其特征在于，包括下列步骤：a.?采用荧光光谱仪，设定第一激发光为特定波长，测量所述下转换发光薄膜在一定发射波长范围内的荧光发射光谱，所述荧光发射光谱中波长之间的步长为a，λ0和λn分别为所述荧光发射光谱波长范围内的最小和最大波长，得到所述荧光发射光谱波长范围内各发射波长下的发射光子数E(λ)；b.?基于紫外分光光度计附件积分球的双光路探测模式，将入射光分成参考光和第二激发光，设定所述参考光能量和所述第二激发光能量的比例系数k的值，所述参考光和第二激发光分别直接从进光口（5）和（4）进入所述积分球，被探测器（6）接收，将所述参考光和信号光路进行调零定标，测得所述参考光能量Eref；c.?将所述带通滤光片（2）紧贴放置于所述积分球进光口（4）前，对所述带通滤光片的透过率进行定标，得到所述带通滤光片的透过率曲线T(λ)，所述透过率曲线中，可透过光波段上波长之间的步长以及波长范围与所述荧光发射光谱相同；d.?将所述下转换发光薄膜（1）紧贴放置于所述带通滤光片（2）前，将紫外透镜（3）放置于所述下转换发光薄膜（1）前，所述第二激发光经过所述紫外透镜（3）聚...
【技术特征摘要】
1.一种对下转换发光薄膜转换效率的测量方法，其特征在于，包括下列步骤: a.采用荧光光谱仪，设定第一激发光为特定波长，测量所述下转换发光薄膜在一定发射波长范围内的荧光发射光谱，所述荧光发射光谱中波长之间的步长为a，Xtl和λη分别为所述荧光发射光谱波长范围内的最小和最大波长，得到所述荧光发射光谱波长范围内各发射波长下的发射光子数E ( λ )； b.基于紫外分光光度计附件积分球的双光路探测模式，将入射光分成参考光和第二激发光，设定所述参考光能量和所述第二激发光能量的比例系数k的值，所述参考光和第二激发光分别直接从进光口(5)和(4)进入所述积分球，被探测器(6)接收，将所述参考光和信号光路进行调零定标，测得所述参考光能量Eref ； c.将所述带通 滤光片(2)紧贴放置于所述积分球进光口(4)前，对所述带通滤光片的透过率进行定标，得到所述带通滤光片的透过率曲线T ( λ )，所述透过率曲线中，可透过光波段上波长之间的步长以及波长范围与所述突光发射光谱相同； d.将所述下转换发光薄膜(I)紧贴放置于所述带通滤光...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢忠荣，陶春先，倪争技，何梁，洪瑞金，张大伟，李芃稼，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：发明
国别省市：
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