缺陷检测装置和显示面板制造方法及图纸

本实用新型专利技术的实施例涉及一种缺陷检测装置和包括该缺陷检测装置的显示面板。分用器可以将多条数据线连接到对应的多条线路。缺陷检测装置包括提供有相应的DC电压的DC线路、连接到DC线路并被构造为根据第一栅极信号将相应的DC电压发送到多条数据线中的对应的第一数据线的第一开关、以及连接到第一DC线路至第三DC线路并被构造为根据第二栅极信号将各DC电压中的一个DC电压发送到所条数据线中的对应的第二数据线的第二开关。因此，可以检测线路和分用器的缺陷。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一个或多个实施例涉及一种用于检测包括在显示装置中的线路和/或分用器的缺陷的方法和装置、以及包括缺陷检测装置的显示面板。
技术介绍
红色、绿色和蓝色(RGB) -DC电压和栅极信号被用来检查有源矩阵方法的显示面板。在这样的显示面板中，与栅极信号同步地向多个红色像素提供红色(R) DC电压，与栅极信号同步地向多个绿色像素提供绿色(G) DC电压，与栅极信号同步地向多个蓝色像素提供蓝色(B) DC电压。红色像素、绿色像素和蓝色像素因RDC电压、⑶C电压和BDC电压而发光，并在发光状态下检查mura斑,其中mura斑是黑/白点、线缺陷、等等。在这样的检查操作期间，位于显示面板和数据驱动电路之间的分用器处于截止状态。因此，可能没有检测形成分用器的薄膜晶体管(TFT)的缺陷以及分用器和数据驱动电路之间的线路的缺陷。在本
技术介绍
部分中公开的上述信息仅用于增加对本技术的背景的理解，因此，其可以包含不构成作为本国的本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
为了解决现有技术中的例如可能没有检测形成分用器的薄膜晶体管(TFT)以及分用器和数据驱动电路之间的线路的缺陷等问题和/或其他问题，一个或多个实施例提供一种检测线路和分用器的缺陷的方法和装置。一个或多个实施例提供一种用于检测线路和/或分用器中的缺陷的方法和装置以及包括该装置的显示面板。一个或多个实施例提供一种使用分用器的缺陷检测装置，分用器将多条数据线中的对应的数据线连接到多条线路，所述缺陷检测装置包括:第一 DC线路至第三DC线路，向第一 DC线路至第三DC线路提供第一 DC电压至第三DC电压；多个第一开关，所述多个第一开关连接到第一 DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第一栅极信号而将第一 DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第一数据线；多个第二开关，所述多个第二开关连接到第一 DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第二栅极信号而将第一 DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第二数据线。分用器可以包括:多个第一 TFT，所述多个第一 TFT连接所述多条线路中的多条第一线路和所述多条数据线中的对应的数据线；多个第二 TFT，所述多个第二 TFT连接所述多条线路中的多条第二线路和所述多条数据线中的对应的数据线，其中，当所述缺陷检测装置检测多条线路中的短路缺陷时，所述多个第一开关和所述多个第二开关处于导通状态，且仅所述多个第一 TFT或所述多个第二 TFT中的一个TFT处于导通状态。当所述多个第一 TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第一 TFT连接，当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。当所述多个第二 TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第二 TFT连接，当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。分用器可以包括:多个第一 TFT，所述多个第一 TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；多个第二 TFT，所述多个第二 TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；当所述缺陷检测装置检测所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT中的缺陷时，所述多个第一 TFT和所述第二 TFT处于导通状态，且仅所述多个第一开关或所述多个第二开关之一处于导通状态。当所述多个第一开关处于导通状态、且所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第一开关的第一数据线通过所述多个第一 TFT和/或所述多个第二 TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第二数据线中的对应的第二数据线。当所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第二数据线中的对应的第二数据线不接收和/或发送第一 DC电压至第三DC电压中的对应的DC电压。当所述多个第二开关处于导通状态、且所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第二开关的第二数据线通过所述多个第一 TFT和/或所述多个第二 TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第一数据线中的对应的第一数据线。当所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第一数据线中的对应的第一数据线不接收和/或发送第一 DC电压至第三DC电压中的对应的DC电压。所述多个第一开关中的每个第一开关可以包括被构造为接收第一栅极信号的栅电极、连接到第一 DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第一数据线中的对应的数据线的第二电极。所述多个第二开关中的每个第二开关可以包括被构造为接收第二栅极信号的栅电极、连接到第一 DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第二数据线中的对应的数据线的第二电极。一个或多个实施例提供一种用于通过第一 TFT和第二 TFT连接到与第一像素阵列对应的第一数据线以及与第二像素阵列对应的第二数据线的线路的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤:将第一 DC电压提供到第一数据线和第二数据线；仅导通第一TFT和第二 TFT中的一个TFT ;根据连接到第一 TFT和第二 TFT中的导通的TFT的第一像素阵列或第二像素阵列的发光状态来检测缺陷。当第一 TFT导通时，检测缺陷的步骤可以包括:当第一像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。检测缺陷的步骤可以包括:当第一像素阵列处于产生相对于灰度级范围中的中间灰度级来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。当第二 TFT导通时，检测缺陷的步骤可以包括:当第二像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。一个或多个实施例提供一种用于包括连接到与第一开关和第一像素阵列连接的第一数据线的第一 TFT和连接到与第二开关和第二像素阵列连接的第二数据线的第二 TFT的分用器的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤:仅导通第一开关和第二开关之一；导通第一TFT和第二TFT ;根据第一像素阵列和第二像素阵列的发光状态来检测第一TFT和/或第二 TFT中的缺陷。检测缺陷的步骤可以包括:当第一像素阵列的发光状态和第二像素阵列的发光状态不同时，检测第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。当第一开关导通时，检测缺陷的步骤可以包括:当第一像素阵列显示黑色且第二像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一 TFT和第二 TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。当第二开关导通时，检测缺陷的步骤可以包括:当第二像素阵列显示黑色且第一像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一 TFT和第二 TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。一个或多个实施例提供一种显示面板，所述显示面板包括:多条数据线；多个像素，所述多个像素分别连接到所述多条数据线；分用器，分用器将多条数据线连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用分用器的缺陷检测装置，其特征在于，分用器将多条数据线中的对应的数据线连接到多条线路，所述缺陷检测装置包括：第一DC线路至第三DC线路，向第一DC线路至第三DC线路提供第一DC电压至第三DC电压；多个第一开关，所述多个第一开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第一栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第一数据线；多个第二开关，所述多个第二开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第二栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第二数据线。

【技术特征摘要】
2011.12.01 KR 10-2011-01278071.一种使用分用器的缺陷检测装置，其特征在于，分用器将多条数据线中的对应的数据线连接到多条线路，所述缺陷检测装置包括: 第一 DC线路至第三DC线路，向第一 DC线路至第三DC线路提供第一 DC电压至第三DC电压； 多个第一开关，所述多个第一开关连接到第一 DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第一栅极信号而将第一 DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第一数据线； 多个第二开关，所述多个第二开关连接到第一 DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第二栅极信号而将第一 DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第二数据线。2.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，分用器包括: 多个第一 TFT，所述多个第一 TFT连接所述多条线路中的多条第一线路和所述多条数据线中的对应的数据线； 多个第二 TFT，所述多个第二 TFT连接所述多条线路中的多条第二线路和所述多条数据线中的对应的数据线， 其中: 所述缺陷检测装置被构造为在当所述多个第一开关和所述多个第二开关处于导通状态、且仅所述多个第一 TFT或所述多个第二 TFT中的一个TFT处于导通状态时的状态下，检测所述多条线路中的短路缺陷。3.如权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于: 当所述多个第一 TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第一 TFT连接， 当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。4.如权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于: 当所述多个第二 TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第二 TFT连接， 当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。5.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，分用器包括: 多个第一 TFT，所述多个第一 TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线； 多个第二 TFT，所述多个第二 TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线； 所述缺陷检测装置被构造为在当所述多个第一 TFT和所述多个第二 TFT处于导通状态、且仅所述多个第一开关或所述多个第二开关中的一个开关处于导通状态时的状态...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾智铉，郑镇泰，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：实用新型
国别省市：