更新驱动方案电压的系统及方法技术方案

本发明专利技术提供用于校准显示阵列的包括在计算机存储媒体上编码的计算机程序的系统、方法及设备。在一个方面中，一种校准显示阵列的方法包括确定特定驱动响应特性及在所述显示阵列上的图像数据的更新之间更新特定驱动方案电压。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及驱动方案电压的动态选择。
技术介绍
机电系统包括具有电及机械元件、激活器、换能器、传感器、光学组件(例如，镜)及电子器件的装置。可按包括(但不限于)微尺度及纳米尺度的多种尺度来制造机电系统。举例来说，微机电系统(MEMS)装置可包括具有范围从约一微米到数百微米或更大的大小的结构。纳米机电系统(NEMS)装置可包括具有小于一微米的大小(包括(例如)小于数百纳米的大小)的结构。可使用沉积、蚀刻、光刻及/或蚀刻掉衬底及/或沉积材料层的部分或者添加层以形成电及机电装置的其它微机械加工工艺来形成机电元件。一种类型的机电系统装置被称为干涉调制器(IMOD)。如在本文中所使用，术语“干涉调制器”或“干涉光调制器”指使用光干涉的原理选择性地吸收及/或反射光的装置。在一些实施方案中，干涉调制器可包括一对传导板，所述对传导板中的一者或两者可为整体或部分透明及/或反射性的，且能够在施加适当电信号时相对运动。在一实施方案中，一个板可包括沉积于衬底上的固定层，且另一板可包括与所述固定层分开一气隙的反射膜。一个板相对于另一板的位置可改变入射于干涉调制器上的光的光干涉。干涉调制器装置具有广泛范围的应用，且预期可用于改良现有产品及形成新产品(尤其是具有显示能力的产品)°
技术实现思路
本专利技术的系统、方法及装置各自具有若干创新方面，其中无单一方面单独负责本文中揭示的理想性质。本专利技术中描述的标的物的一个创新方面可实施于一种校准一阵列的方法中。所述方法可包括使用一组选定驱动方案电压驱动一阵列。所述方法还可至少部分基于所述阵列的第一子集的测量来确定所述阵列的第一驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压，且可使用所述第一更新的驱动方案电压驱动所述阵列。另外，所述方法可至少部分基于所述阵列的第二子集的测量来确定所述阵列的第二驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性确定用于所述阵列的第二更新的驱动方案电压，且可使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述阵列。在一些方面中，所述第一子集及所述第二子集与不同色彩相关联。在另一方面中，提供一种用于校准驱动方案电压的设备。所述设备可包括一阵列的元件、元件状态感测电路及驱动器及处理器电路。所述驱动器及处理器电路可经配置以使用一组选定驱动方案电压驱动一阵列、至少部分基于所述阵列的子集的测量来确定所述阵列的第一驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压，且可经配置以使用所述第一更新的驱动方案电压驱动所述阵列。此夕卜，所述驱动器及处理器电路可经配置以至少部分基于所述阵列的子集的测量来确定所述阵列的第二驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第二更新的驱动方案电压，且可经配置以使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述阵列。在一些方面中，所述设备可包括温度传感器及含有使驱动响应特性或驱动方案电压与温度有关的信息的查找表。在另一方面中，一种用于校准显示器的设备可包括一阵列的元件、用于感测元件状态的装置、用于至少部分基于所述阵列的第一子集的测量来确定所述阵列的第一驱动响应特性的装置、用于至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压的装置及用于使用所述第一更新的驱动方案电压驱动所述阵列的装置。所述设备可进一步包括用于至少部分基于所述阵列的第二子集的测量来确定所述阵列的第二驱动响应特性的装置、用于至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第二更新的驱动方案电压的装置及用于使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述阵列的装置。在一些方面中，所述设备可包括用于测量温度的装置及用于存储及检索使驱动响应特性或驱动方案电压与温度有关的信息的装置。在另一方面中，提供一种非暂时性计算机可读媒体。所述计算机可读媒体可具有存储于其上的使驱动器电路进行以下操作的指令:使用一组选定驱动方案电压驱动阵列、至少部分基于所述阵列的第一子集的测量来确定所述阵列的第一驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压，及使用所述第一更新的驱动方案电压驱动所述阵列。所述指令可进一步使所述驱动器电路至少部分基于所述阵列的第二子集的测量来确定所述阵列的第二驱动响应特性、至少部分基于所述确定的响应特性来确定用于所述阵列的第二更新的驱动方案电压，及使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述阵列。此说明书中描述的标的物的一个或一个以上实施方案的细节在随附图式及以下描述中予以阐明。通过描述、图式及权利要求书，其它特征、方面及优势将变得显而易见。注意，下列图的相对尺寸可能未按比例绘制。附图说明图1展示描绘在干涉调制器(IMOD)显示装置的一系列像素中的两个邻近像素的等角视图的一实例。图2展示说明并入有3X3干涉调制器显示器的电子装置的系统框图的一实例。图3展示说明用于图1的干涉调制器的可移动反射层位置对所施加的电压的图的一实例。图4展示说明当施加各种共用电压及分段电压时的干涉调制器的各种状态的表的一实例。图5A展示说明在图2的3X3干涉调制器显示器中的显示数据的帧的图的一实例。图5B展示可用以写入在图5A中说明的显示数据的帧的共用信号及分段信号的时序图的一实例。图6A展示图1的干涉调制器显示器的部分横截面的一实例。图6B到6E展示干涉调制器的变化的实施方案的横截面的实例。图7展示说明干涉调制器的制造过程的流程图的一实例。图8A到SE展示制造干涉调制器的方法中的各种阶段的横截面示意性说明的实例。图9为说明用于驱动每像素64色显示器的实施方案的共用驱动器及分段驱动器的实例的框图。图10为说明用于同时驱动64色显示器的两个区段的两个共用驱动器及两个分段驱动器的实例的框图。图11展示说明用于一阵列的干涉调制器中的若干成员的可移动反射镜位置对所施加的电压的图的一实例。图12为耦合到驱动器电路及状态感测电路的显示阵列的示意性框图。图13为展示在图12的阵列中的测试电荷流的示意图。图14为说明在阵列的使用期间校准驱动方案电压的方法的流程图。图15为具有状态感测及驱动方案电压更新能力的显示阵列的另一实施方案的示意图。图16为说明校准显示阵列中的驱动方案电压的另一方法的流程图。图17A及17B展示说明包括多个干涉调制器的显示装置的系统框图的实例。 在各图式中的相同参考数字及标识指示相同元件。具体实施方式以下详细描述是针对某些实施方案以用于描述创新方面的目的。然而，可以用大量不同方式来应用本文中的教示。可在经配置以显示图像(无论是运动图像(例如，视频)还是固定图像(例如，静态图像)，且无论是文字图像、图形图像还是图片图像)的任何装置中实施所描述的实施方案。更明确来说，预期所述实施方案可在多种电子装置中实施或与多种电子装置相关联，所述电子装置例如(但不限于)是移动电话、具备多媒体因特网功能的蜂窝式电话、移动电视接收器、无线装置、智能电话、蓝牙装置、个人数据助理(PDA)、无线电子邮件接收器、手持型或便携型计算机、上网本、笔记型计算机、智能本(smartbook)、平板计算机、打印机、复印机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.03 US 61/380,1871.一种校准机电元件阵列的方法，所述方法包含: 使用一组选定驱动方案电压驱动所述元件阵列； 至少部分基于所述阵列的第一子集的测量来确定第一驱动响应特性； 至少部分基于所述确定的第一驱动响应特性来确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压； 使用所述第一更新的驱动方案电压驱动所述元件阵列； 至少部分基于所述阵列的第二子集的测量来确定第二驱动响应特性； 至少部分基于所述确定的第二驱动响应特性来确定用于所述阵列的第二更新的驱动方案电压；及 使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述元件阵列。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一子集及所述第二子集与不同色彩相关联，且其中所述第一驱动响应特性与所述第二驱动响应特性相同。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述组选定驱动方案电压包括保持电压及分段电压，且其中驱动所述阵列包括将所述保持电压及所述分段电压两者同时施加到所述阵列中的至少一个元件。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述确定的第一驱动响应特性为激活所述阵列的所述第一子集中的所述元件中的约百分之五十(50)时的电压。5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括确定所述阵列的一个或一个以上代表性线，其中所述阵列的所述第一子集或所述第二子集包含所述一个或一个以上代表性线。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述确定所述阵列的第一驱动响应特性及第二驱动响应特性、确定用于所述阵列的第一更新的驱动方案电压及第二更新的驱动方案电压及使用所述第一更新的驱动方案电压及所述第二更新的驱动方案电压驱动所述阵列是在显示器的寿命内周期性地执行。7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括: (a)使用第一测试电压确定所述阵列的一条线的驱动响应特性； (b)至少部分基于所述线的所述驱动响应特性，确定所述第一测试电压是否适合于导出驱动电压； (C)如果所述第一测试电压不适合于导出驱动电压，则将所述第一测试电压更新第一量; (d)使用所述更新的第一测 试电压确定所述阵列的所述线的第二驱动响应特性； (e)至少部分基于所述驱动响应特性，确定所述更新的第一测试电压是否适合于导出驱动电压； (f)如果所述更新的第一测试电压不适合于导出驱动电压，则再次将所述第一测试电压更新第二量 '及 (g)重复步骤(d)、(e)及(f)，直到在步骤(e)处，所述更新的第一测试电压适合为止。8.根据权利要求7所述的方法，其包含: (h)在所述更新的第一测试电压于步骤(e)处适合后，选择第二测试电压； (i)使用所述第二测试电压确定所述阵列的一条线的第三驱动响应特性；(j)至少部分基于所述第三驱动响应特性确定所述第二测试电压是否适合； (k)如果所述第二测试电压不适合，则将所述第二测试电压更新第三量； (I)使用所述更新的第二测试电压确定所述阵列的所述线的第四驱动响应特性； (m)至少部分基于所述第四驱动响应特性确定所述更新的第二测试电压是否适合； (η)如果所述更新的第二测试电压不适合，则再次将所述第二测试电压更新第四量；及 (ο)重复步骤(l)、(m)及(η)，直到在步骤(m)处，所述更新的第二测试电压适合为止。9.根据权利要求7所述的方法，其中所述阵列为显示元件阵列，且在步骤(a)及(d)前将图像数据写入到所述阵列。10.根据权利要求8所述的方法，其中所述阵列为显示元件阵列，且在步骤(a)、(d)、(i)及(1)前将图像数据写入到所述阵列。11.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：威廉默斯·约翰内斯·罗伯特斯·范利尔，艾伦·刘易斯，库罗什·阿弗拉托尼，巴莫德·瓦尔马，拉梅什·库马尔·戈埃尔，菅原奈央，
申请(专利权)人：高通MEMS科技公司，
类型：
国别省市：