【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶模组测试
,尤其涉及一种,以测试是否存在液晶量异常。
技术介绍
薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-1XD)是利用液晶分子的光学各向异性和双折射特性通过TFT开关以及讯号电压的输入来控制光的穿透来显示图像。液晶显示面板(Panel)中,彩膜(Color filter)基板和TFT基板通过框胶成盒在一起,两层基板中间有间隔物(Photo Spacer)支撑以在所述两层基板之间形成一定间隔(Cell gap),从而在所述两层基板之间形成液晶填充区以填充液晶,液晶填充区内的液晶分子在外加电场影响下改变排列方向,以控制透过彩膜基板的光量。液晶模组是指在液晶显示面板(Panel)上组装背光单元(Back Light Unit)后的成品。当液晶显示面板中的液晶填充量不够,或填充时存在空气以及其他原因,液晶显示面板在成盒以后,将可能出现气泡(Bubble),造成产品的异常,如图1所示。对于液晶量的异常测试,目前的测试方法为:一是用手拍打液晶显示面板的表面,拍打确认产品是 ...
【技术保护点】
一种用于液晶模组的测试装置,其特征在于,包括可在垂直方向振动的振动平台、罩盖及数个撞击元件,所述罩盖可拆卸地安装在所述振动平台上,并在所述振动平台与罩盖之间形成容置空间以用于容纳待测的液晶模组及所述数个撞击元件,所述数个撞击元件设于所述容置空间内,用于在所述振动平台振动时对所述待测的液晶模组的面板进行撞击以验证是否存在液晶量异常。
【技术特征摘要】
1.一种用于液晶模组的测试装置,其特征在于,包括可在垂直方向振动的振动平台、罩盖及数个撞击元件,所述罩盖可拆卸地安装在所述振动平台上,并在所述振动平台与罩盖之间形成容置空间以用于容纳待测的液晶模组及所述数个撞击元件,所述数个撞击元件设于所述容置空间内,用于在所述振动平台振动时对所述待测的液晶模组的面板进行撞击以验证是否存在液晶量异常。2.按权利要求1所述的用于液晶模组的测试装置,其特征在于,所述撞击元件为球状。3.按权利要求2所述的用于液晶模组的测试装置,其特征在于,所述撞击元件为金属球。4.按权利要求1至3项中任意一项所述的用于液晶模组的测试装置,其特征在于,所述罩盖包括顶壁及由所述顶壁的周缘向下延伸的侧壁,在所述容置空间内放置所述待测的液晶模组后,所述罩盖的顶壁与所述待测的液晶模组的面板之间的距离为所述撞击元件的高度的五倍以上。5.按权利要求1所述的用于液晶模组的测试装置,其特征在于,所述罩盖的侧壁的底端向外延伸有凸缘,所述凸缘上设有第一固定件以将所述罩盖与所述振动平台相固定,所述罩盖的侧壁上于靠近其 底端的位置设有第二固定件以用于将所述待测的液晶模组与所述罩盖相固定。6.一种用于液晶模组的测试方法,其特征在于,包括如下步骤: 提供测试装置及待测的液晶模组,所述测试装置包括可在垂直方向振动的振动平台、罩盖及数个撞击元件; 将所述待测的液晶模组平放于所述振动平台上,并使...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄笑宇,廖学士,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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