阵列基板和显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种阵列基板和设置有该阵列基板的显示装置，涉及显示领域，可减少信号线与测试线连接区域在后继生产流程中发生电弧放电的机率，确保测试线的正常形成以及测试的正常进行，从而提高良品率。本实用新型专利技术所述阵列基板，包括：用于提供显示信号或控制信号的信号线；以及与所述信号线相连，用于测试所述信号线是否布线不良的测试线；还包括：设置在信号线上方的绝缘层，所述测试线设置在所述绝缘层上；位于所述测试线与所述信号线之间的各层上设置有过孔，所述测试线通过该过孔与所述信号线相连。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及显示领域，尤其涉及一种阵列基板和设置有该阵列基板的显示装置。
技术介绍
在阵列基板的制作过程中，为提高成品率及降低损失，需要及时对产品进行检测，反馈并利用激光方法修复等。如图1所示，针对可能存在的布线不良，形成栅线12时，会在阵列基板的边缘一并形成一与栅线12相连的测试线11 ;形成数据线13时，也需要在边缘形成与数据线13相连的测试线11 (测试线DO和测试线DE)，各测试线11在测试端口 14处利用接触探针等与外部测试设备15相连，从而实现测试信号加载。具体地，在完成栅金属层刻蚀，形成栅线12以及与栅线12相连的测试线11后，下一步一般米用等离子增强化学气相沉积(Plasma EnhancedChemical Vapor Deposition,PECVD)方法形成栅绝缘层，专利技术人发现:在形成栅绝缘层的工艺过程中，栅线12与测试线11相连区域(称为:栅线连接区，Gate pad bar),尤其是栅线12与测试线11的连接处,容易发生电弧放电现象，导致该位置的测试电路被烧毁，从而出现在阵列基板完成后无法利用阵列测试(Array Tester)设备测试或测试异常的情况，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板，包括：用于提供显示信号或控制信号的信号线；以及与所述信号线相连，用于测试所述信号线是否布线不良的测试线；还包括：设置在所述信号线上方的绝缘层，其特征在于，所述测试线设置在所述绝缘层上；位于所述测试线与所述信号线之间的各层上设置有过孔，所述测试线通过该过孔与所述信号线相连。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括:用于提供显示信号或控制信号的信号线；以及与所述信号线相连，用于测试所述信号线是否布线不良的测试线；还包括:设置在所述信号线上方的绝缘层，其特征在于， 所述测试线设置在所述绝缘层上； 位于所述测试线与所述信号线之间的各层上设置有过孔，所述测试线通过该过孔与所述信号线相连。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于， 所述信号线为栅线或者数据线。3.根据权利要求1或2所述的阵列基板，其特征在于， 所述测试线的材质为透明导电材料。4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，还包括: 所述测试线与透...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明，苏盛宇，郝昭慧，尹雄宣，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：