非接触位移测量装置制造方法及图纸

技术编号:8668412 阅读:174 留言:0更新日期:2013-05-02 22:29
本实用新型专利技术涉及一种非接触位移测量装置。是由下述结构构成的:对运行中的被检测工件的某点进行信号标记的信号标记装置;待被检测工件运行至某一指定距离S所在位置时,对信号标记装置所做的标记进行实时检测的信号检测装置;接收通过信号标记装置和信号检测装置所发出信号信息,并对该信号信息进行综合比对,且输出位移信号的信号控制处理器;接收信号控制处理器发出的位移信号信息的执行机构,执行机构作出动作,从而整个装置完成对被检测工件的位移测量。本实用新型专利技术适用于各种位移测量的场合,方便快捷地对设备加工的位移特性进行检测、反馈与控制,使得加工设备既省时省工、安全可靠,又自动化程度高,具有良好的经济效益和社会效益。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种非接触位移测量装置,尤其涉及一种适用于位移信息的非接触信息采集、能进行实时位移检测、并输出位移的测量装置。
技术介绍
测量控制是科学研究和工业生产中的重要过程。随着科学技术的不断发展与生产力水平的不断提高,各行各业对测量技术的要求也越来越高,提出了非接触、小型化、集成化、数字化、智能化等各种要求。位移是测量中常见的几何量,位移的测量在机械工程中应用很广。工作中经常要求精确测量出零件的表面轮廓和位置,而在力、扭矩、速度、加速度等物理量进行测量的过程中,也经常以位移为中间量进行转换。位移的测量方法有很多种,一般可分为接触式测量方法和非接触式测量方法。接触式测量是指测量时仪器的传感元件与工件表面或工质直接接触。非接触式测量是指测量时仪器的传感元件与工件表面或工质不直接接触。一般利用光、气、磁等中介物理量使传感元件与工件表面或工质产生联系。不与被测对象直接接触而完成测量的测量方法。接触式测量方法由于与被测对象直接接触,或多或少产生变形,影响测量精度,而且可能损坏物体表面,因而接触式测量方法在发展前途和应用范围上远不如非接触式测量方法。
技术实现思路
本技术是针对上述问题提出的,其目的是提供一种非接触位移测量装置,该装置可以应用在各种位移测量的场合,并可以和与位移测量切割设备结合使用,进而方便快捷地对设备加工的位移特性进行检测、反馈与控制,使得加工设备既省时省工、安全可靠,又自动化程度高,不受工件外表面限制,进而使得设备作业范围扩大,作业效率高。为了实现上述目的本技术解决技术问题的技术方案是非接触位移测量装置,由信号标记装置、信号检测装置、信号控制处理器及执行机构组成,是由下述结构构成的对运行中的被检测工件的某点进行信号标记的信号标记装置;待被检测工件运行至某一指定距离S所在位置时,对信号标记装置所做的标记进行实时检测的信号检测装置;接收通过信号标记装置和信号检测装置所发出信号信息,并对该信号信息进行综合比对,且输出位移信号的信号控制处理器;接收信号控制处理器发出的位移信号信息的执行机构,执行机构作出动作,从而整个装置完成对被检测工件的位移测量。所述的信号标记装置发出的标记信号对被检测工件进行激励、标记,发出的信号是光、气、磁或声信号。所述的信号检测装置检测的是光、气、磁或声信号对工件产生影响后的温度、介质密度、磁场或声波相关信号。所述的执行机构进行的动作为独立测量位移信号的信息或相连接设备构成结合装置的信号输出信息之一。所述的信号标记装置、信号检测装置、信号控制处理器以及执行机构之间的连接为有线或无线的连接方式之一。本技术具有如下优点效果:本技术由于采用了信号标记装置、信号检测装置、信号控制处理器以及执行机构,达到了对被检测工件的非接触位移测量,弥补了目前接触式的位移测量方式对被测工件的表面条件要求很高,由于或多或少产生变形,影响测量精度,而且可能损坏物体表面等因素会对测量产生不同程度的影响的不足。本技术适用于各种位移测量的场合,还可与位移测量切割设备结合使用,进而方便快捷地对设备加工的位移特性进行检测、反馈与控制,使得加工设备既省时省工、安全可靠,又自动化程度高,不受工件外表面限制,进而使得设备作业范围扩大,作业效率高,具有良好的经济效益和社会效益。附图说明图1是本技术非接触位移测量装置的结构示意图。其中:被检测工件1,信号标记装置2,信号检测装置3,信号控制处理器4,执行机构5。具体实施方式以下,结合附图对本技术进行详细说明。如图1所示,本技术由信号标记装置2、信号检测装置3、信号控制处理器4、执行机构5组成,是由下述结构构成的:对运行中的被检测工件I的某点进行信号标记的信号标记装置2 ;待被检测工件I运行至某一指定距离S所在位置时,对信号标记装置2所做的标记进行实时检测的信号检测装置3 ;接收通过信号标记装置2和信号检测装置3所发出信号信息,并对该信号 信息进行综合比对,且输出位移信号的信号控制处理器4 ;接收信号控制处理器4发出的位移信号信息的执行机构5,执行机构5作出动作,从而整个装置完成对被检测工件I的位移测量。其中位移测量装置中的信号标记装置2发出的标记信号起到对被测工件I进行激励、标记的作用,发出的信号是光、气、磁、声等信号,信号检测装置3检测的是光、气、磁、声等信号对工件产生影响后的温度、介质密度、磁场、声波相关信号,信号控制处理器4处理来自信号标记装置2和信号检测装置3所发出和获取的信号,执行机构5进行的动作是独立测量位移信号的信息,或和相连接设备构成结合装置的信号输出信息,信号标记装置2、信号检测装置3、信号控制处理器4以及执行机构5之间的连接为有线或无线的连接方式之o本文档来自技高网...

【技术保护点】
非接触位移测量装置,由信号标记装置(2)、信号检测装置(3)、信号控制处理器(4)及执行机构(5)组成,其特征是由下述结构构成的:对运行中的被检测工件(1)的某点进行信号标记的信号标记装置(2);待被检测工件(1)运行至某一指定距离S所在位置时,对信号标记装置(2)所做的标记进行实时检测的信号检测装置(3);接收通过信号标记装置(2)和信号检测装置(3)所发出信号信息,并对该信号信息进行综合比对,且输出位移信号的信号控制处理器(4);接收信号控制处理器(4)发出的位移信号信息的执行机构(5),执行机构(5)作出动作,从而整个装置完成对被检测工件(1)的位移测量。

【技术特征摘要】
1.非接触位移测量装置,由信号标记装置(2)、信号检测装置(3)、信号控制处理器(4)及执行机构(5)组成,其特征是由下述结构构成的: 对运行中的被检测工件(I)的某点进行信号标记的信号标记装置(2); 待被检测工件(I)运行至某一指定距离S所在位置时,对信号标记装置(2)所做的标记进行实时检测的信号检测装置(3); 接收通过信号标记装置(2)和信号检测装置(3)所发出信号信息,并对该信号信息进行综合比对,且输出位移信号的信号控制处理器(4); 接收信号控制处理器(4)发出的位移信号信息的执行机构(5),执行机构(5)作出动作,从而整个装置完成对被检测工件(I)的位移测量。2.根据权利要求1所述的非接触...

【专利技术属性】
技术研发人员:张万江万龙赵春庆龙彦泽孙凡田野王敬军范杨雪
申请(专利权)人:沈阳建筑大学
类型:实用新型
国别省市:

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