【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波、毫米波技术。
技术介绍
采用各种算法辅助确定器件参数在现有技术中有广泛的应用，例如中国专利CN200810150928.2，授权公告号CN101546347B，专利技术名称“矩形波导低通滤波器的参数确定方法”。当今，人们对电子器件的工作频率越来越高。从低频、高频到微波毫米波，再到如今研究得如火如荼的太赫兹，器件的尺寸则是越来越高。一方面，这满足了当前对器件小型化、电路集成化的要求。而另一方面，小尺寸无疑增加了器件的加工难度。虽然微细加工技术日趋成熟，能满足大部分小型化器件的加工要求。但是加工成品的尺寸往往与预期的尺寸有着偏差，而且这些偏差必然会对器件的性能有着不同程度的影响。那么如何度量影响的程度成了必须解决的问题。容差分析方法很好地解决了这一问题。容差分析却有着不同方法，比如阶矩法和最坏容差分析法。两者都需要性能指标与各参数之间的数学解析关系。阶矩法得到解析式是为了得到性能指标的均值和方差，从而给出偏差范围。最坏容差分析法得到解析式是为了各参数对性能指标的灵敏度，从而确定出重要的灵敏参数。但是就基片集成波导环形器(Substrate IntegratedffaveguideCirculator简称SIW环形器)而言，其结构相对复杂——构成该器件的结构有基片集成波导，微带线，铁氧体。因此，难以得到性能指标与各参数之间数学解析关系。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种，能够降低环形器的加工成本，加快测试周期。本专利技术解决所述技术问题采用的技术方案是，，其特征在于，包括下述步骤:步骤一、确定一个工作于Ka波段的尺寸为8X...
【技术保护点】
8毫米基片集成波导环形器参数确定方法，其特征在于，包括下述步骤：步骤一：确定一个工作于Ka波段的尺寸为8×8平方毫米的SIW环形器，满足以下指标要求：中心频率35.5GHz~36GHz，插入损耗?0.3dB以下，各端口回波损耗在?23dB以下的带宽大于2GHz，三个端口阻抗均为50欧姆；步骤二：以步骤一中的环形器的尺寸参数为中心值，围绕中心值在一定范围内对部分参数做单一变量的改变，并进行仿真；步骤三：以中心频率、插入损耗、回波损耗在?23dB以下的带宽为目标函数，得到步骤二中单一变量改动的情况下，各目标函数的变化情况；步骤四：利用数理统计方法，计算各尺寸参数在变化范围内的标准差σ(x)，以及所对应的各目标函数的标准差σ(f)；步骤五：在归一化增量灵敏度公式中：分别以标准差σ(f)、σ(x)代替增量Δf、Δx，对步骤四中的各目标函数进行灵敏度分析，得到各尺寸参数对目标函数的归一化灵敏度;步骤六：利用最环容差分析方法，结合目标函数的归一化灵敏度，得出尺寸的可接受偏差。FDA00002692482600011.jpg
【技术特征摘要】
2012.09.12 CN 201210337306.71.8毫米基片集成波导环形器参数确定方法，其特征在于，包括下述步骤:步骤一:确定一个工作于Ka波段的尺寸为8X8平方毫米的SIW环形器，满足以下指标要求:中心频率35.5GHz 36GHz，插入损耗-0.3dB以下，各端口回波损耗在_23dB以下的带宽大于2GHz，三个端口阻抗均为50欧姆；步骤二:以步骤一中的环形器的尺寸参数为中心值，围绕中心值在一定范围内对部分参数做单一变量的改变，并进行仿真；步骤三:以中心频率、插入损耗、回波损耗在_23dB以下的带宽为目标函数，得到步骤二中单一变量改动的情况下，各目标函数的变化情况；步骤四:利用数理统计方法，计算各尺寸参数在变化范围内的标准差σ (X)，以及所对应的各目标函数的标准差σ (f)； 步骤五:在归一化增量灵敏度公式中:2.如权利要求1所述的8毫米基片集成波导环形器参数确定...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈良，付强，汪晓光，邓龙江，何璐，梁迪飞，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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