【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种中红外光信号强度的测量方法,尤其是采用光导型中红外探测器测量中红外光强变化的测量方法。
技术介绍
光导型中红外探测器如碲镉汞、锑化铟等在测量红外光强参数时,常采用恒流源结合仪表放大器的测量方法,但是当测量环境温度变化较大时,由于中红外探测器的固有特性,探测器的暗电阻和响应率均随温度变化而改变,当环境温度变化时,光导型探测器暗电阻的变化将引起探测电路输出本底电压的漂移。当探测器工作在一个宽温环境下,即周边温度变化范围较大时,本底电压漂移是电路参数设计时必须考虑的问题。现有技术中抑制本底电压漂移,一方面是选择合适的配平温度点,另一方面是降低仪表放大器的放大倍数。受光导型探测器响应率的限制,探测器输出信号通常比较微弱,为了获得足够的信号幅度,需要提高前置仪表放大器的放大倍数,故现有的按照某个固定温度点进行恒流源电路的配平方法,很难做到在较宽温度变化范围内,输出信号的最大幅值能够恰好满足后续记录系统的最大量程,也就是说当探测器工作在宽温区的两个端点时,探测器的本底信号并非恰好工作在测量系统所允许的探测器本底电平的上下限,没有使输出信号达到允许的最大值, ...
【技术保护点】
一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:【1】搭建中红外光信号强度的测量装置,所述的测量装置包括中红外光导探测器(3)、驱动电路和信号采集记录仪;所述的驱动电路包括仪表放大器单元和恒流源单元,恒流源单元由测量臂和配平臂组成,测量臂包括恒流源(2),恒流源的正端接偏置电压源(1),负端同时与中红外光导探测器(3)的一端和仪表放大器(6)的反向输入端相连,中红外光导探测器(3)的另一端接地;配平臂包括偏置电阻(4)和配平电阻(5),偏置电阻(4)一端接偏置电压源(1),另一端同时与配平电阻(5)的一端和仪表放大器(6)的正向输入端相连,配平电阻(5) ...
【技术特征摘要】
1.一种宽温环境下中红外光信号强度的测量方法,其特征在于,包括以下步骤: I搭建中红外光信号强度的测量装置,所述的测量装置包括中红外光导探测器(3)、驱动电路和信号采集记录仪; 所述的驱动电路包括仪表放大器单元和恒流源单元,恒流源单元由测量臂和配平臂组成,测量臂包括恒流源(2),恒流源的正端接偏置电压源(1),负端同时与中红外光导探测器(3)的一端和仪表放大器(6)的反向输入端相连,中红外光导探测器(3)的另一端接地;配平臂包括偏置电阻(4)和配平电阻(5),偏置电阻(4)一端接偏置电压源(1),另一端同时与配平电阻(5...
【专利技术属性】
技术研发人员:冯刚,杨鹏翎,王振宝,陈绍武,邵碧波,冯国斌,王平,宇文璀蕾,
申请(专利权)人:西北核技术研究所,
类型:发明
国别省市:
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