测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置，所述方法包括以下步骤：步骤1、提供测量机台及数个对位标记，所述测量机台包括机架、安装于机架上的矩形测量平台、设于测量平台上方的测定显微镜及安装于机架上且连接测定显微镜的激光器；步骤2、将对位标记安装于测量平台上，并记录该些对位标记对应测量平台坐标系的坐标，以作为参考坐标值；步骤3、通过测定显微镜读取该些对位标记对应测量平台坐标系的实际坐标值，并将该实际坐标值与参考坐标值进行对比；步骤4、如果实际坐标值与参考坐标值之间存在偏差，补正该实际坐标值，使得该实际坐标值等于参考坐标值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量领域，尤其涉及一种测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置。
技术介绍
液晶显示装置(LCD, Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板中放置液晶分子，通过给玻璃基板的电路通电来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。请参阅图1，所述液晶显示面板一般包括TFT (薄膜晶体管)基板100、与TFT基板100相对贴合设置的CF基板300及设于TFT基板100与CF基板300之间的液晶500，TFT基板100 —般包括基板102及形成于基板102上的薄膜晶体管阵列104，该薄膜晶体管阵列104通过光照制程形成于基板102上，在形成薄膜晶体管阵列104的时候，为了保证对每一个像素单元的尺寸精度，需要对每一个像素单元的尺寸进行测量。请参阅图2及图3，在TFT基板100与CF基板300进行贴合时，为了保证贴合精度，一般现在TFT基板100与CF基板300的角落位置分别设置对齐标记，一般的，在TFT基板100的四个角落位置设置十字形第一标记120，在CF基板300的对应四角落位置设置第二标记320,每一第二标记320均包括四个标记块322,该四个标记快322分别对称设置，当TFT基板100与CF基板300贴合后，所述第二标记320与第一标记120完全对应，这时，每一第二标记320的四个标记快322分别位于与该一第二标记320对应的第一标记120的四个角落设置，该第一与第二标记120、320在形成时需要通过测长装置进行测量，以保证配合精度，TFT基板100与CF基板300贴合后，也需要通过测长装置进行检测，以保证第一与第二标记120、320精密配合。综上所述，可见，测长装置在液晶显示面板制作过程中具有极其重要的作用，为液晶显示面板生产不可或缺的设备。请参阅图4，现有的测长装置一般为激光测长装置，其包括测量机台500及电性连接于该测量机台500的操作系统(未图示)，所述测量机台500包括机架502安装于机架502上的平台504、安装于平台504上相对两侧的导轨506、可滑动安装于导轨506上的横梁508、可滑动安装于横梁508上的测定显微镜510及安装于机架502上且连接测定显微镜510的激光器512，测量时，操作系统控制测量机台500读取置于平台504上的待测物体(未图示)上的某两测量点的坐标，并将读取的两坐标值传送给操作系统，操作系统根据该两坐标值进行运算，进而确定量测量点之间的长度，具体如下请参阅图5,其中，X-Y为测定坐标系，Xt-Yt为平台坐标系，Xc-Yc为测定显微镜坐标系，那么，测定点A的坐标(X，Y) = (Xt+Xc, Yt+Y。)。用于液晶显示面板制程中的测长装置，其平台504上安装有数个支撑针542，液晶显示面板(未图示)承载于该些支撑针542上，以导轨506的长度方向为Y轴方向，以横梁508的长度方向为X方向，所以横梁508必须垂直导轨506，但在实际测量过程中，横梁508在相对导轨506滑动时，横梁508与导轨506的直交度会出现偏差(如图6所示)，进而导致测量结果误差，进而影响后续制程。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测长装置直交度补偿方法，其通过在测量机台的测量平台四角设置对位标记，在测量前先通过对位标记的参考坐标与测量坐标进行对比，以确定测量机台的直交度，有效保证测量精度。本专利技术的另一目的在于提供一种测长装置，其通过在测量平台四角设置对位标记，监测横梁与导轨的直交度，进而保证测量精度为实现上述目的，本专利技术提供一种测长装置直交度补偿方法，包括以下步骤步骤1、提供测量机台及数个对位标记，所述测量机台包括机架、安装于机架上的矩形测量平台、设于测量平台上方的测定显微镜及安装于机架上且连接测定显微镜的激光器；步骤2、将对位标记安装于测量平台上，并记录该些对位标记对应测量平台坐标系的坐标，以作为参考坐标值；步骤3、通过测定显微镜读取该些对位标记对应测量平台坐标系的实际坐标值，并将该实际坐标值与参考坐标值进行对比；步骤4、如果实际坐标值与参考坐标值之间存在偏差，补正该实际坐标值，使得该实际坐标值等于参考坐标值。所述步骤I提供的对位标记为四个，分别安装于测量平台的四个角落位置。所述步骤I提供的测量机台还包括安装于测量平台上且位于测量平台相对两侧的第一与第二导轨、安装于该第一与第二导轨上的横梁及动力系统，该横梁沿该第一与第二导轨长度方向滑动设置，所述测定显微镜滑动安装于该横梁上，该动力系统包括数个直线电机，分别用于驱动横梁在第一与第二导轨上的滑动及测定显微镜在横梁上的滑动。所述测量平台由玻璃制成，其上均布数个孔部，数个支撑针由该些孔部延伸于测量平台外，用于支撑待测量液晶显示面板。所述测量机台还包括安装于机架上的石定磐，该石定磐由大理石制成，所述测量平台装于该石定磐上。所述测量机台还包括设于机架与石定磐之间的防震装置及气浮系统。本专利技术还提供一种测长装置，包括测量机台及安装于测量机台上的四个定位标记，所述测量机台包括机架、安装于机架上的矩形测量平台、设于测量平台上方的测定显微镜及安装于机架上且连接测定显微镜的激光器，所述定位标记分别安装于测量平台的四个角落位置。所述测量机台还包括安装于测量平台上且位于测量平台相对两侧的第一与第二导轨、安装于该第一与第二导轨上的横梁及动力系统，该横梁沿该第一与第二导轨长度方向滑动设置，所述测定显微镜滑动安装于该横梁上，该动力系统包括数个直线电机，分别用于驱动横梁在第一与第二导轨上的滑动及测定显微镜在横梁上的滑动。所述测量平台由玻璃制成，其上均布数个孔部，数个支撑针由该些孔部延伸于测量平台外，用于支撑待测量液晶显示面板。所述测量机台还包括安装于机架上的石定磐、设于机架与石定磐之间的防震装置及气浮系统，该石定磐由大理石制成，所述测量平台装于该石定磐上。本专利技术的有益效果本专利技术测长装置直交度补偿方法及使用该方法的测长装置，其通过在测量平台上设置对位标记，在测量前先读取对位标记的坐标值，并将该坐标值与该对位标记的设定坐标值进行对比，出现偏差时自动补正，以保证X轴与Y轴的直交度，进而保证测量的精度。为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制。附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。附图中，图1为液晶显示面板的结构示意图；图2为TFT基板与CF基板的分解示意图；图3为TFT基板的第一标记与CF基板的第二标记的对位配合示意图；图4为现有的测长装置的结构示意图；图5为测长装置测量坐标原理图；图6为测长装置的直交度出现偏差时的俯视示意图；图7为本专利技术测长装置直交度补偿方法的流程图；图8为本专利技术测长装置的结构示意图；图9为本专利技术测长装置的俯视示意图。具体实施例方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图7至图9，本专利技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测长装置直交度补偿方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、提供测量机台及数个对位标记，所述测量机台包括机架、安装于机架上的矩形测量平台、设于测量平台上方的测定显微镜及安装于机架上且连接测定显微镜的激光器；步骤2、将对位标记安装于测量平台上，并记录该些对位标记对应测量平台坐标系的坐标，以作为参考坐标值；步骤3、通过测定显微镜读取该些对位标记对应测量平台坐标系的实际坐标值，并将该实际坐标值与参考坐标值进行对比；步骤4、如果实际坐标值与参考坐标值之间存在偏差，补正该实际坐标值，使得该实际坐标值等于参考坐标值。

【技术特征摘要】
1.一种测长装置直交度补偿方法，其特征在于，包括以下步骤: 步骤1、提供测量机台及数个对位标记，所述测量机台包括机架、安装于机架上的矩形测量平台、设于测量平台上方的测定显微镜及安装于机架上且连接测定显微镜的激光器； 步骤2、将对位标记安装于测量平台上，并记录该些对位标记对应测量平台坐标系的坐标，以作为参考坐标值； 步骤3、通过测定显微镜读取该些对位标记对应测量平台坐标系的实际坐标值，并将该实际坐标值与参考坐标值进行对比； 步骤4、如果实际坐标值与参考坐标值之间存在偏差，补正该实际坐标值，使得该实际坐标值等于参考坐标值。2.如权利要求1所述的测长装置直交度补偿方法，其特征在于，所述步骤I提供的对位标记为四个，分别安装于测量平台的 四个角落位置。3.如权利要求1所述的测长装置直交度补偿方法，其特征在于，所述步骤I提供的测量机台还包括安装于测量平台上且位于测量平台相对两侧的第一与第二导轨、安装于该第一与第二导轨上的横梁及动力系统，该横梁沿该第一与第二导轨长度方向滑动设置，所述测定显微镜滑动安装于该横梁上，该动力系统包括数个直线电机，分别用于驱动横梁在第一与第二导轨上的滑动及测定显微镜在横梁上的滑动。4.如权利要求1所述的测长装置直交度补偿方法，其特征在于，所述测量平台由玻璃制成，其上均布数个孔部，数个支撑针由该些孔部延伸于测量平台外，用于支撑待测量液晶显示...

【专利技术属性】
技术研发人员：林勇佑，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：