定位方法及定位装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种定位方法及定位装置，所述定位装置包括发射器、接收器、判断模块及计算模块。发射器向待定位点和辅助定位点发射光束，再由接收器接收发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束，判断模块然后判断接收器是否接收到待定位点反射回来的反射光束，最后由计算模块根据判断结果以及待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。从而当无法接收到待定位点反射回来的反射光束时，则根据辅助定位点反射回来的反射光束确定待定位点的高度信息，提高了定位的成功几率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及定位
，尤其是涉及一种用于液晶面板制程中的定位方法及定位装置。
技术介绍
在TFT阵列基板的制程中，需要测量TFT阵列基板的信号线的宽度，以保证TFT阵列基板的质量。现有技术中，在测量阵列基板的信号线之前，一般先由激光定位装置对TFT阵列基板进行定位，使测量装置能获取更清楚的图片，提高测量的准确度。目前的激光定位装置在对TFT阵列基板进行定位时，由激光定位装置的激光发射器向TFT阵列上预先确定的待定位点发射光束，发射的光束经待定位点反射后形成反射光束，接收器则接收该反射光束来确定待定位点的高度信息，然后根据定位点的高度信息调整TFT阵列基板的高度，使TFT阵列基板处于最适合测量装置进行测量的高度。然而由于在进行定位时，TFT阵列基板上已形成多个元件，使TFT阵列基板的表面凹凸不平，并且有时TFT阵列基板表面也会存在各种杂质，若待定位点的表面凹凸不平或者有杂质，则会导致照射到待定位点上的光束反射后呈散射状态，使得反射光束投射于接收器范围之外，导致接收器不能接收到待定位点的反射光束，从而导致定位失败。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种定位方法及定位装置，旨在提高定位的成功率。为达以上目的，本专利技术提出一种定位方法，包括步骤向待定位点和辅助定位点发射光束；接收发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束；判断是否接收到所述待定位点反射回来的反射光束；若是，则根据所述待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息；若否，则根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信肩、O优选地，所述根据所述待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定该待定位点的高度信息包括判断接收到的所述待定位点反射回来的反射光束是否有效；若有效，则根据所述待定位点反射回来的反射光束确定该待定位点的高度信息；若无效，则根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信肩、O优选地，所述根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息包括根据所述辅助定位点反射回来的有效反射光束确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述根据反射光束确定所述待定位点的高度信息包括记录所述待定位点和辅助定位点的投射位置；根据所述投射位置确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述向待定位点和辅助定位点发射光束的步骤之前还包括确定所述待定位点；确定所述辅助定位点，且该辅助定位点以所述待定位点为中心对称设置。本专利技术同时提出一种定位装置，包括发射器，用于向待定位点和辅助定位点发射光束；接收器，用于接收发射器发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束；判断模块，判断所述接收器是否接收到所述待定位点反射回来的反射光束；计算模块，用于接收判断模块的判断结果，若接收到的判断结果为是时，则根据待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息；若接收到的判断结果为否时，则根据辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述判断模块还用于判断所述接收器接收到的所述待定位点反射回来的反射光束是否有效，并将判断结果发送至所述计算模块；所述计算模块接收到判断结果为有效时，则根据待定位点反射回来的反射光束确定该待定位点的高度信息；计算模块接收到判断结果为无效时，则根据辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述判断模块还用于判断所述接收器接收到的辅助定位点反射回来的反射光束是否有效，并将判断结果发送至所述计算模块；所述计算模块根据辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息时，则选择所述辅助定位点反射回来的有效反射光束确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述接收器还用于记录所述待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束在接收器上的投射位置，所述计算模块根据所述投射位置确定所述待定位点的高度信息。优选地，所述定位装置还包括确定模块，该确定模块用于确定待定位点和辅助定位点，所述辅助定位点以所述待定位点为中心对称设置。本专利技术所提供的一种定位方法及定位装置，通过预先确定待定位点和辅助定位点，当无法接收到待定位点反射回来的反射光束或反射光束无效时，则根据辅助定位点反射回来的反射光束确定待定位点的高度信息，从而提高了定位的成功率。附图说明图1是本专利技术的定位方法第一实施例的流程图；图2是本专利技术中待定位点和辅助定位点的分布示意图；图3是本专利技术中待定位点和辅助定位点的另一分布示意图；图4是本专利技术中辅助定位点反射回来的反射光线投射于定位器的示意图；图5是本专利技术的定位方法第二实施例的流程图；图6是本专利技术的定位装置一实施例的结构示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施例方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。参见图1，提出本专利技术的定位方法第一实施例，所述定位方法用于在测量阵列基板时对待测量点进行定位，该定位方法包括步骤S101、向待定位点和辅助定位点发射光束。以阵列基板为例，在对阵列基板进行量测时，先确定待量测点，在对该待量测点量测之前，需首先对该量测点定位。定位时，则该待量测点即为需要定位的待定位点，再于该待定位点周围确定若干辅助定位点。作为优选，辅助定位点可以以待定位点为中心分布于该待定位点周围，最好是以待定位点为中心对称分布于待定位点周围，呈矩形或圆形等对称几何体排布，而待定位点则为几何中心，如图2所示，位于矩形几何中心的是待定位点0，对称分布于该待定位点0周围的为辅助定位点A、B、C、D、E、F、G、H。辅助定位点和待定位点也可以呈直线排布，且辅助定位点对称分布于待定位点两侧，如图3所示，位于直线中点的为待定位点0，对称分别于该待定位点0两侧的为辅助定位点A、B、C、D0辅助定位点越多，则定位成功率越高、定位越准确。确定了待定位点和辅助定位点之后，则向预先确定的待定位点和辅助定位点发射光束。步骤S102、接收发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束。本步骤S102中，光束照射到待定位点和辅助定位点上后在待定位点和辅助定位点发生反射，形成反射光束，接收待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束，并记录反射光束投射于接收器上的投射位置。步骤S103、判断是否接收到待定位点反射回来的反射光束。阵列基板的表面凹凸不平，并且有时阵列基板表面也会存在各种杂质，若待定位点或辅助定位点的表面凹凸不平或者有杂质，则会导致照射到待定位点或辅助定位点上的光束反射后呈散射状态，使得反射光束投射于接收器的接收范围之外，导致接收器不能接收到待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束，若在步骤S102中记录的投射位置中没有待定位点反射回来的反射光束的投射位置，则表示未接收到待定位点反射回来的反射光束。判断是否接收到待定位点反射回来的反射光束，若是，则执行步骤S104 ;若否，则执行步骤S105。步骤S104、根据待定位点反射回来的反射光束确定待定位点的高度信息。如果接收到了待定位点反射回来的反射光束的投射位置，则可以根据该待定位点反射回来的反射光束的投射位置来直接确定该待定位点的高度。例如，当待定位点反射回来的反射光束投射于接收器时向上偏离接收器中心I个单位，则直接确定待定位点的高度为1，后续本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种定位方法，其特征在于，包括步骤：向待定位点和辅助定位点发射光束；接收发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束；判断是否接收到所述待定位点反射回来的反射光束；若是，则根据所述待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息；若否，则根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。

【技术特征摘要】
1.一种定位方法，其特征在于，包括步骤 向待定位点和辅助定位点发射光束； 接收发射的光束经待定位点和辅助定位点反射回来的反射光束； 判断是否接收到所述待定位点反射回来的反射光束； 若是，则根据所述待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息； 若否，则根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。2.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述根据所述待定位点或辅助定位点反射回来的反射光束确定该待定位点的高度信息包括 判断接收到的所述待定位点反射回来的反射光束是否有效； 若有效，则根据所述待定位点反射回来的反射光束确定该待定位点的高度信息； 若无效，则根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息。3.根据权利要求2所述的定位方法，其特征在于，所述根据所述辅助定位点反射回来的反射光束确定所述待定位点的高度信息包括 根据所述辅助定位点反射回来的有效反射光束确定所述待定位点的高度信息。4.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述根据反射光束确定所述待定位点的高度信息包括 记录所述待定位点和辅助定位点的投射位置； 根据所述投射位置确定所述待定位点的高度信息。5.根据权利要求1-4任一项所述的定位方法，其特征在于，所述向待定位点和辅助定位点发射光束的步骤之前还包括 确定所述待定位点； 确定所述辅助定位点，且该辅助定位点以所述待定位点为中心对称设置。6.一种定位装置，其特征在于，包括 发射器，用于向待定位点和辅助定位点发射光束； 接收器，用于接收发射器发...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑文达，吴础任，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：