【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
在铺设通信用光纤时有时使用熔接器来连接光纤。如果所连接的光纤发生弯曲,则有在夹持在V形槽的部分与处于悬臂状态的前端处轴芯偏移,从而在熔接部的损耗增加的情况。因此,将光纤的曲率半径设为2m以上,尤其是将容易受到曲率影响的带状光缆设为4m以上(参照非专利文献I)。光纤的曲率或曲率半径的测定方法例如有“显微侧视(Sideview microscopy)”法和“激光束散射(Laser beam scattering)”法(参照非专利文献2)。非专利文献1:1EC 60793-2-50 Edition 3. 02008-05,Optical fibres-Part2—50:Product specifications—Sectional specification forelass B single modefibres.非专利文献2 :1EC 60793-1-34,Optical fibres-Part 1-34:Measurementmethods and test procedures—Fibre curl.
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题] 然而,重复进行光纤的曲率测定时发现在长度方向上曲率的偏差较大。[解决问题的技术手段]根据本专利技术的一方式,提供一种,包括固定步骤,将光纤的一端穿插于套箍中,使包含被测定光纤的前端的测定区间从套箍露出作为被测定光纤,并且在相对于套箍而与被测定光纤相反的一侧,由使被测定光纤围绕被测定光纤的轴芯旋转的旋转保持部夹持光纤并固定;测定步骤,在测定区间中包含的多个测定位置中的一个位置处,对被测 ...
【技术保护点】
一种光纤的曲率测定方法,包括:固定步骤,将光纤的一端穿插于套箍中,使包含所述光纤的前端的测定区间从所述套箍露出作为被测定光纤,并且在相对于所述套箍而与所述被测定光纤相反的一侧,由使所述被测定光纤围绕所述被测定光纤的轴芯旋转的旋转保持部夹持所述光纤并固定;测定步骤,在所述测定区间中包含的多个测定位置中的一个位置处,对所述被测定光纤的侧面照射与所述被测定光纤的轴方向大致正交且在所述轴方向上隔开间隔Δz的平行的一对束状光线,在与所述被测定光纤隔开且与所述轴方向大致平行的坐标轴上测定由所述被测定光纤反射的所述一对束状光线的经过位置的差值di;第一重复步骤,重复进行由所述旋转保持部使所述被测定光纤旋转到角度θi的旋转步骤及所述测定步骤,直到取得i个所述差值di的值,其中,i为满足i≥2的自然数;第一计算步骤,根据由所述第一重复步骤取得的差值di的i个值,利用下述式1算出振幅SA的代表值,di=SA×cos(θi-φ)+Δz…式1其中,φ表示相位角度;第二计算步骤,根据由所述第一计算步骤算出的振幅SA,利用下述式2算出所述被测定光纤的曲率k,k=SA/(2LΔz)…式2其中,L表示所述被测定光纤与 ...
【技术特征摘要】
2011.10.24 JP 2011-2331561.一种光纤的曲率测定方法,包括 固定步骤,将光纤的一端穿插于套箍中,使包含所述光纤的前端的测定区间从所述套箍露出作为被测定光纤,并且在相对于所述套箍而与所述被测定光纤相反的一侧,由使所述被测定光纤围绕所述被测定光纤的轴芯旋转的旋转保持部夹持所述光纤并固定; 测定步骤,在所述测定区间中包含的多个测定位置中的一个位置处,对所述被测定光纤的侧面照射与所述被测定光纤的轴方向大致正交且在所述轴方向上隔开间隔Az的平行的一对束状光线,在与所述被测定光纤隔开且与所述轴方向大致平行的坐标轴上测定由所述被测定光纤反射的所述一对束状光线的经过位置的差值Cli ; 第一重复步骤,重复进行由所述旋转保持部使所述被测定光纤旋转到角度0 i的旋转步骤及所述测定步骤,直到取得i个所述差值Cli的值,其中,i为满足i > 2的自然数;第一计算步骤,根据由所述第一重复步骤取得的差值Cli的i个值,利用下述式I算出振幅Sa的代表值,Cli = SaXcos ( 0 J — 40 + Az…式 I其中,0表示相位角度; 第二计算步骤,根据由所述第一计算步骤算出的振幅SA,利用下述式2算出所述被测定光纤的曲率k, k = Sa/ (2LAz)…式 2 其中,L表示所述被测定光纤与所述坐标的距离;及 第二重复步骤,将使所述一对束状光线的照射位置移动到所述多个测定位置中的另一位置的移动步骤、所述第一重复步骤、所述第一计算步骤及所述第二计算步骤重复进行m次。2.根据权利要求1所述的曲率测定方法,还包括第三计算步骤,所述第三计算步骤是根据由所述第二重复步骤取得的曲率k的m个值算出曲率k的代表值ka。3.根据权利要求1所述的曲率测定方法,还包括 缩短步骤,在执行到所述第二重复步骤后,去除包含所述被测定光纤的前端的所述测定区间的一部分,形成变短的缩短测定区间; 再计算步骤,在所述多个测定位置中,将所述缩短测定区间中包含的多个测定位置作为多个再测定位置,对所述多个再测定位置的每一个执行所述第一重复步骤、所述第一计算步骤及第...
【专利技术属性】
技术研发人员:小山田浩,
申请(专利权)人:信越化学工业株式会社,
类型:发明
国别省市:
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