【技术实现步骤摘要】
用于减小路径损耗的方法和设备
技术介绍
本申请一般涉及测试电子设备,并且更具体地,涉及测试包括多个天线的电子设备。电子设备通常包含无线通信电路。例如,设备可以使用2. 4GHz和5. OGHz的W1-Fi (IEEE 802. 11)频带进行通信。在蜂窝电话电信频带和其它射频频带中,无线通信也是可能的。在诸如天线分集方案之类的方案中,电子设备可以使用具有多个天线的阵列来处理无线通信。当大量制造这样类型的多天线无线设备时,可以使用射频测试站来评估每个设备上的无线通信电路的性能,以确保每个设备满足设计准则。射频测试站通常包括测试主机、测试器(例如,信号生成器)以及具有测试天线的电磁屏蔽测试外壳。信号生成器连接到测试主机。以这种方式进行布置,在产品测试期间,测试主机将信号生成器配置成经由电磁屏蔽测试外壳的测试天线向相应的被测电子设备(DUT)发送射频信号。在传统的射频测试布置中,将只具有一个天线的无线DUT放置在电磁屏蔽测试外壳中。测试主机指导信号生成器向DUT广播下行链路测试信号(B卩,信号生成器使用屏蔽测试外壳中的测试天线向DUT辐射测试信号)。DUT可以使用其天线来接收下行链路测试信号。DUT可以被配置成分析所接收到的下行链路测试信号,并确定其无线通信电路是否满足性能准则。例如,DUT可以基于所接收到的下行链路信号来计算接收功率电平。如果接收功率电平小于预定阈值,则将DUT标记为通过的DUT。如果接收功率电平大于预定阈值,则将DUT标记为失败的DUT。`以这种方式测试多天线设备可能不适合测试至少包含第一天线和第二天线的DTU,并且可能产生不正确的结果,这是因为 ...
【技术保护点】
一种用于使用测试站来测试被测产品设备的方法,所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构,其中,所述测试站包括测试外壳,所述方法包括:将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置;在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时,收集关于所述第一天线结构的测试测量,以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则;以及在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时,收集关于第二天线结构的测试测量,以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则。
【技术特征摘要】
2011.10.12 US 13/272,0671.一种用于使用测试站来测试被测产品设备的方法,所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构,其中,所述测试站包括测试外売,所述方法包括 将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置; 在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置吋,收集关于所述第一天线结构的测试測量,以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则;以及 在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置吋,收集关于第二天线结构的测试测量,以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则。2.如权利要求1所述的方法,还包括 在收集关于所述第一天线结构的测试测量之前,将所述被测产品设备定位在第一朝向;以及 在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于所述第二天线结构的测试测量之前,将所述被测产品设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向。3.如权利要求2所述的方法,其中,将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括围绕旋转轴来旋转所述被测产品设备。4.如权利要求2所述的方法,其中,将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括围绕与所述测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转所述被测产品设备。5.如权利要求2所述的方法,其中,将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿着与所述测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动所述被测产品设备。6.如权利要求2所述的方法,其中,将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括沿着与所述测试外壳的平面底座表面平行的轴水平移动所述被测产品设备。7.如权利要求2所述的方法,其中,所述测试外壳包括测试天线,并且其中,将所述被测产品设备定位在所述第一朝向包括定位所述被测产品设备,使得所述测试天线与所述第一天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。8.如权利要求7所述的方法,其中,将所述被测产品设备定位在所述第二朝向包括定位所述被测产品设备,使得所述测试天线与所述第二天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。9.如权利要求1所述的方法,还包括 响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构中的至少ー个未能满足预定性能准则,将所述被测产品设备标记为需要重做的失败的设备。10.如权利要求1所述的方法,还包括 响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构满足预定性能准则,将所述被测设备标记为通过的设备,并且将所述通过的设备封装成全新的产品。11.一种用于使用测试站来测试被测设备的方法,所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构,其中,所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的测试天线,所述方法包括 在所述被测设备与所述外壳内的测试固定装置配合吋,将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第一朝向; 在所述被测设备处于所述第一朝向吋,对所述第一天线结构执行射频测量; 在所述被测设备与所述测试固定装置配合吋,将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向;以及 在所述被测设备处于所述第二朝向吋,对所述第二天线结构执行射频测量。12.如权利要求11所述的方法,其中,所述测试外壳包括横电磁室。13.如权利要求11所述的方法,还包括 在所述被测设备处于所述第一朝向时并且在所述第二天线结构被切出使用吋,利用所述测试天线向所述第一天线结构发送射频测试信号,并从所述第一天线结构结接收射频测试信号。14.如权利要求13所述的方法,还包括 在所述被测设备处于所述第二朝向时并且在所述第一天线结构被切出使用时,利用所述测试天线向所述第二天线结构发送射频测试信号并从所述第二天线结构接收射频测试信号。15.如权利要求11所述的方法,其中,将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括围绕旋转轴来旋转所述被测设备。16.如权利要求11所述的方法,其中,将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第ニ朝向包括沿着轴移动所述被测设备。17.如权利要求11所述的方法,其中,所述测试天线包括近场通信元件,所述近场通信元件适合用于使用近场电磁耦合机制向所述被测设备发送射频信号,并从所述被测设备接收射频信号。18.如权利要求11所述的方法,还包括 使用所述测试站来校准參考被测设备,以确定在测试所述被测设备时使用的所述第一朝向和所述第二朝向。19.一种用于使用测试站来测试被测设备的方法,所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构,其中,所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的近场通信元件,所述方法包括 将所述被测设备定位在第一朝向; 在所述被测设备处于所述第一朝向时,利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号; 将所述被测设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向;以及 在所述被测设备处于所述第二朝向时,利用所述近场通信元件使用近场电磁耦合来从所述被测设备接收射频信号。20.如权利要求19所述的方法,其中,所述测试外壳包括横电磁室。21.如权利要求19所述的方法,其中,所述测试站还包括定位设备,并且其中,将所述被测设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括利用所述定位设备围绕至少ー个旋转轴来旋转所述被测设备。22.一种用于使用测试站来测试被测产品设备的设备,所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构,其中,所述测试站包括测试外壳,所述用于使用测试站来测试被测产品设...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·G·尼科尔,M·帕斯科林尼,申志一,
申请(专利权)人:苹果公司,
类型:发明
国别省市:
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