【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及核聚变与光学诊断领域，特别涉及一种反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，本专利技术便于集成，能够快速、同步地返回温度数据，且无接触无损伤。
技术介绍
太赫兹(Terahertz or THz)波通常指的是频率处在O.1THz IOTHz之间的电磁波，介于微波和红外之间。太赫兹时域光谱系统是一种相干探测技术，能够同时获得太赫兹脉冲的振幅信息和相位信息，通过对时间波形进行傅立叶变换能直接得到样品的吸收系数和折射率等光学参数。太赫兹时域光谱技术因为有着很高的探测信噪比和较宽的探测带宽，探测灵敏度很高，所以已经广泛应用于材料性质的分析中。理论及实验研究表明，很多工业材料用太赫兹时域光谱技术探测，能有效的产生共振吸收峰，从而提供了特征指纹谱，并可以进行探测识别。同时，在某些环境下，太赫兹波具有独特的强透射能力和低辐射能量的特点，不会对材料造成伤害，而且具有高功率及高分辨率。在高密度、高温、磁化等离子体中，太赫兹波同样也表现出零吸收的特性，这就为太赫兹波用来检测磁约束聚变装置中工作温度提供了可能。磁约束聚变装置中偏滤器主要是石墨瓦，而偏滤器是聚变反应...
【技术保护点】
反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，其特征在于，所述反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，放置于磁约束聚变装置观测窗口外部，具体包括：太赫兹波发射装置（2）、太赫兹波探测装置（3）、激光测距探头（4）、太赫兹时域?频域转换模块（5）、数据分析及数据库比对模块（6）、结果输出模块（7）；所述激光测距探头方向垂直于偏滤器石墨瓦（1），激光测距探头（4）探测偏滤器石墨瓦（1）与探头距离，并将记录的探测距离输入至数据分析及数据库比对模块（6）；所述太赫兹波发射装置（2）向偏滤器石墨瓦（1）射入太赫兹波，偏滤器石墨瓦（1）反射回的太赫兹波由太赫兹波探测装置（3）...
【技术特征摘要】
1.反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，其特征在于，所述反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，放置于磁约束聚变装置观测窗口外部，具体包括太赫兹波发射装置(2)、太赫兹波探測装置(3)、激光测距探头(4)、太赫兹时域-频域转换模块(5)、数据分析及数据库比对模块(6)、结果输出模块(7); 所述激光测距探头方向垂直于偏滤器石墨瓦(1)，激光测距探头(4)探测偏滤器石墨瓦(I)与探头距离，并将记录的探測距离输入至数据分析及数据库比对模块(6)； 所述太赫兹波发射装置(2)向偏滤器石墨瓦(I)射入太赫兹波,偏滤器石墨瓦(I)反射回的太赫兹波由太赫兹波探測装置(3 )接收并记录该温度下偏滤器石墨瓦(I)反射回的太赫...
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