检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置制造方法及图纸

技术编号:8579632 阅读:176 留言:0更新日期:2013-04-15 03:54
本实用新型专利技术涉及核聚变与光学诊断领域,公开了一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置,具体包括:太赫兹波发射装置、太赫兹波探测装置、激光测距探头、太赫兹时域-频域转换模块、数据库模块、结果输出模块;所述激光测距探头与数据库模块数据连接;所述太赫兹波发射装置向偏滤器石墨瓦射入太赫兹波,偏滤器石墨瓦反射回的太赫兹波由太赫兹波探测装置接收,太赫兹波探测装置与太赫兹时域-频域转换模块、数据库模块、结果输出模块依次数据连接。本实用新型专利技术采用反射太赫兹时域谱技术,能够在线、同步并且无接触无损伤地检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦的热冲击瞬时温度。?(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及核聚变与光学诊断领域,特别涉及一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置,其采用反射太赫兹时域谱技术来检测磁约束聚变装置中偏滤器石墨瓦在瞬态热冲击时温度,能够快速、同步地返回温度数据,且无接触无损伤,实用性强。
技术介绍
太赫兹(Terahertz or THz)波通常指的是频率处在O.1THz IOTHz之间的电磁波,介于微波和红外之间。太赫兹时域光谱系统是一种相干探测技术,能够同时获得太赫兹脉冲的振幅信息和相位信息,通过对时间波形进行傅立叶变换能直接得到样品的吸收系数和折射率等光学参数。太赫兹时域光谱技术因为有着很高的探测信噪比和较宽的探测带宽,探测灵敏度很高,所以已经广泛应用于材料性质的分析中。理论及实验研究表明,很多工业材料用太赫兹时域光谱技术探测,能有效的产生共振吸收峰,从而提供了特征指纹谱,并可以进行探测识别。同时,在某些环境下,太赫兹波具有独特的强透射能力和低辐射能量的特点,不会对材料造成伤害,而且具有高功率及高分辨率。在高密度、高温、磁化等离子体中,太赫兹波同样也表现出零吸收的特性,这就为利用太赫兹波来检测磁约束聚变装置中工作温度提供了可能。磁约束聚本文档来自技高网...

【技术保护点】
检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置,其特征在于,所述检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置包括:太赫兹波发射装置(2)、太赫兹波探测装置(3)、激光测距探头(4)、太赫兹时域?频域转换模块(5)、数据库模块(6)、结果输出模块(7);????所述激光测距探头(4)与数据库模块(6)数据连接;所述太赫兹波发射装置(2)向偏滤器石墨瓦(1)射入太赫兹波,偏滤器石墨瓦(1)反射回的太赫兹波由太赫兹波探测装置(3)接收,太赫兹波探测装置(3)与太赫兹时域?频域转换模块(5)、数据库模块(6)、结果输出模块(7)依次数据连接。

【技术特征摘要】
1.检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置,其特征在于,所述检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置包括太赫兹波发射装置(2)、太赫兹波探测装置(3)、激光测距探头(4)、太赫兹时域-频域转换模块(5)、数据库模块(6)、结果输出模块(7); 所述激光测距探...

【专利技术属性】
技术研发人员:信裕海然哈桑丁洪斌
申请(专利权)人:大连理工大学
类型:实用新型
国别省市:

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