一种滑动式多层磁感应断层成像装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种滑动式多层磁感应断层成像装置及方法，被测对象置于平板上，激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板，线圈阵列和平板之间可进行滑动以使线圈阵列的中心面对应被测对象的不同断层，当线圈阵列对应被测对象的某一断层时可以完成一次磁感应断层成像数据采集，通过成像算法重建被测对象在该断层内的电导率分布图像，滑动线圈阵列或平板，可以依次完成多次数据采集并分别重建各个断层内的电导率分布图像，经过多次数据采集和图像重建，获得被测对象多个相邻断层内的电导率分布图像，从而得到被测对象整体的电导率分布情况。本发明专利技术可以方便地获得被测对象内部不同断层内的电导率分布图像，从而实现多层非接触电阻抗断层成像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电阻抗断层成像
，涉及。
技术介绍
电阻抗是物质被动电特性的度量。传统的电阻抗测量方法是通过与被测对象相接触的一对电极分别施加激励信号和测量响应信号，从而计算出电阻抗。利用此基本原理，通过多个位置的激励测量数据从而形成电阻抗的分布图像，其典型代表是电阻抗断层成像。根据电磁感应原理，处于交变磁场中的容积导体内部会感应出同频率的交变涡流，而涡流的性质与容积导体的电阻抗分布直接相关。因此，可通过与被测对象非接触的线圈施加激励交变磁场，通过另一个线圈测量感应交变涡流的信号，经计算可得出被测对象的电阻抗。根据上述原理，通过在被测对象外部的不同位置分别进行激励和测量，从而形成磁感应原理的电阻抗成像，其典型代表是磁感应断层成像。磁感应断层成像是一种非接触式的电阻抗断层成像方法，它通过与被测对象不接触的线圈施加交变电流激励，并测量感应涡流所引起的磁场变化，经成像算法重建线圈所处断层内部的电阻抗分布图像。由于采用了非接触的传感器，即线圈，磁感应断层成像在应用上更为便捷。现有的磁感应断层成像都是针对某一固定断层的成像，例如申请号为200510042937. 6、专利技术名称为“非接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，包括平板，被测对象置于平板上，激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板，激励测量线圈阵列的各线圈中心共面；激励测量线圈阵列与平板之间能够相对运动，激励测量模块与激励测量线圈阵列相连接，激励测量模块将检测数据发送给控制单元；当激励测量线圈阵列对被测对象的某一断层完成一次磁感应断层成像数据采集，控制单元通过成像算法重建被测对象在该断层内的电导率分布图像并发送给显示器进行显示；然后激励测量线圈阵列相对平板运动，进行被测对象下一断层的磁感应断层成像数据采集，控制单元生成下一断层的电导率分布图像，并进行多层图像显示。

【技术特征摘要】
1.一种滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，包括平板，被测对象置于平板上，激励测量线圈阵列包绕被测对象及平板，激励测量线圈阵列的各线圈中心共面；激励测量线圈阵列与平板之间能够相对运动，激励测量模块与激励测量线圈阵列相连接，激励测量模块将检测数据发送给控制单元；当激励测量线圈阵列对被测对象的某一断层完成一次磁感应断层成像数据采集，控制单元通过成像算法重建被测对象在该断层内的电导率分布图像并发送给显示器进行显示；然后激励测量线圈阵列相对平板运动，进行被测对象下一断层的磁感应断层成像数据采集，控制单元生成下一断层的电导率分布图像，并进行多层图像显示。2.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，所述的激励测量线圈阵列或平板设置在滑轨上，由电机驱动其在滑轨上运动。3.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，所述的激励测量线圈阵列和平板分别设置在不同的滑轨上，由控制单元发出指令给后滑轨控制模块，再由滑轨控制模块通过电机驱动其在各自的滑轨上运动。4.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，所述的激励测量线圈阵列的线圈中心共面与平板垂直或呈一定的倾角。5.如权利要求4所述的滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，激励测量线圈阵列的线圈中心共面与平板的倾角通过两者相交线为轴进行调节。6.如权利要求1所述的滑动式多层磁感应断层成像装置，其特征在于，所述的激励测量线圈阵列与平板之间的相对运动包括A :激励测量线圈阵列固定不动，平板往返滑动；B :平板固定不动，激励测量线圈阵列往返滑动；C :激励测量线圈阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：董秀珍，刘锐岗，付峰，尤富生，史学涛，季振宇，王雷，杨滨，徐灿华，代萌，王楠，
申请(专利权)人：中国人民解放军第四军医大学，
类型：发明
国别省市：