【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电检测
,尤其涉及一种检测彩色滤光片中亚像素(RGB)偏移的方法及装置。
技术介绍
參见图1,为彩色滤光片中RGB的示意图,其中彩膜区域在经过背光LED灯照射的情况下,根据本身RGB的特性呈现出不同的颜色。參见图2,为CXD (Charge-CoupledDevice,电荷耦合元件)从通过LED照射的彩色滤光片中彩膜区域呈现出不同的灰阶值。图3为现有技术中AOI (Automatic OpticInspection,自动光学检测)获取彩色滤光片中彩膜区域正常情况下灰阶变化波形的示意图,其中横坐标表示位置坐标,纵坐标表示位置坐标对应的灰阶值,灰阶值范围0 255。在现有的彩色滤光片的异常的检测方法中,对检测此点是否为异常定义ー个阈值,对每个点的检测设定都是一祥的。如图4所示,红色区域上有ー个灰色缺陷40。參见图5,为CCD获取的彩膜区域的灰阶的效果,其中②是异常点的灰阶值,①③④⑤点是正常点的灰阶值。现有的检测异常点的计算方法如下首先设②是这五点中灰阶值的最小值,然后对此五点的灰阶值进行从小到达排序②①③④⑤。将需要检测的点的灰阶值与五点排序 ...
【技术保护点】
一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法,其特征在于,所述方法包括:检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化,并生成灰阶变化波形;获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量;比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值;当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时,判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。
【技术特征摘要】
1.一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法,其特征在于,所述方法包括检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化,并生成灰阶变化波形;获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量;比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值; 当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时,判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量的步骤包括根据所述灰阶变化波形,以及预设的异常波峰值的阈值,获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述生成灰阶变化波形的步骤包括 获取被检测的彩色滤光片中彩膜区域中灰阶变化的相关参数;根据获取的所述灰阶变化的相关参数,以及预设的灰阶异常值的阈值,生成被检测的彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化波形。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括预先设置所述预设的灰阶异常值的阈值、所述预设的异常波峰的数量阈值、以及所述预设的异常波峰值的阈值。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括当判定被检测的彩膜区域中出现亚像素偏移时,发送提示信息。6.一种检测彩色滤光片中亚...
【专利技术属性】
技术研发人员:张铁轶,余道平,刘超强,张祥,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。