一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法制造方法及图纸

技术编号:8561638 阅读:170 留言:0更新日期:2013-04-11 02:50
本发明专利技术涉及核聚变与光学诊断领域,公开了一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法,技术方案为:在磁约束聚变装置正常工作时,从窗口外向石墨瓦垂直射入太赫兹波,探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱;分析处理时域谱,将其在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下频域谱;此时,数据自动选取特征谱线,读取数据库中标定温度下该特征谱线位置,两者相比较得出频移量,与数据库的频移量-温度的函数关系相对照,从而计算出瞬时温度,输出并导入至计算机系统保存。本发明专利技术采用反射太赫兹时域谱技术,能够在线、同步并且无接触无损伤地检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦的热冲击瞬时温度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及核聚变与光学诊断领域,特别涉及,该方法较之传统的热电偶温度计相比,能够快速、同步地返回温度数据,且无接触无损伤。
技术介绍
太赫兹(Terahertz or THz)波通常指的是频率处在O.1THz IOTHz之间的电磁波,介于微波和红外之间。太赫兹时域光谱系统是一种相干探测技术,能够同时获得太赫兹脉冲的振幅信息和相位信息,通过对时间波形进行傅立叶变换能直接得到样品的吸收系数和折射率等光学参数。太赫兹时域光谱技术因为有着很高的探测信噪比和较宽的探测带宽,探测灵敏度很高,所以已经广泛应用于材料性质的分析中。理论及实验研究表明,很多工业材料用太赫兹时域光谱技术探测,能有效的产生共振吸收峰,从而提供了特征指纹谱,并可以进行探测识别。同时,在某些环境下,太赫兹波具有独特的强透射能力和低辐射能量的特点,不会对材料造成伤害,而且具有高功率及高分辨率。在高密度、高温、磁化等离子体中,太赫兹波同样也表现出零吸收的特性,这就为太赫兹波用来检测磁约束聚变装置中工作温度提供了可能。磁约束聚变装置中偏滤器主要是石墨瓦,而偏滤器是聚变反应堆中的关键部件。在实际工作条件下,面对等离子体的偏滤器表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法,具体包括以下步骤:步骤100:在磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦正常工作时,将太赫兹波垂直入射到石墨瓦上,探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱???????????????????????????????????????????????;步骤200:分析处理太赫兹时域波谱;将太赫兹时域波谱在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下反射的频域谱;步骤300:计算机理论模拟不同温度和标定温度下石墨瓦的太赫兹时域谱,条件与偏滤器工作环境相同,对上述两种太赫兹时域谱在有效频域内分别做傅里叶变换,得到标定温度下的太赫兹频域谱和不同温度下的太赫兹频...

【技术特征摘要】
1.ー种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法,具体包括以下步骤 步骤100 :在磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦正常工作吋,将太赫兹波垂直入射到石墨瓦上,探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱or(0 ; 步骤200 :分析处理太赫兹时域波谱Q7(t);将太赫兹时域波谱£^0)在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下反射的频域谱Fgw〕; 步骤300 :计算机理论模拟不同温度和标定温度下石墨瓦的太赫兹时域谱,条件与偏滤器工作环境相同,对上述两种太赫兹时域谱在有效频域内分别做傅里叶变换,得到标定温度下的太赫兹频域谱...

【专利技术属性】
技术研发人员:信裕海然哈桑丁洪斌
申请(专利权)人:大连理工大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1