【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及。
技术介绍
近年来，通信领域里各种专利纠纷不断，诉讼成为了业界的常态。2011年4月苹果对三星提出的7项专利侵权指控中，其中一项涉及iPad物理设计。然而目前对电路硬件设计是否侵权基本上从硬件的形状进行判断，影响侵权行为、侵权产品的客观判定。因此，如何较合理地、定量地判断集成电路产品设计的相似性是ー项亟待解决的难题。将电路的物理设计抽象成复杂网络的好处在于可以利用图论的相关工具对物理 设计的表面结构采用统计方法来描述。近期的研究也验证了从电路抽象出的网络具有小世界特性、无尺度特性等复杂网络特征。如何在缺少电量信息的情况下将复杂网络特征应用于定量測量电路物理设计的相似度是ー个崭新的问题。对于网络的相似度测量而言，现有的研究大多集中在网络是否模块化及内部模块与整体自相似性的检测上，以辨识一个给定网络中的模块以及模块之间的关系。而对于有着不同节点数的整个网络的比较及其相似度的定量測量方法则较为缺乏。
技术实现思路
为了解决目前电路物理设计专利侵权判定及网络相似度測量较难以判断的技术问题，本专利技术提供。为了实现上述技术目的，本专利技术的技术方案是，ー种电路物理设计相似度的测试方法，包括以下步骤，步骤ー将需对比的两个电路原理图中的各个元件或功能模块及其之间的连接抽象成复杂网络，以得到两个电路原理图相应的复杂网络的节点集V、V’ ；步骤ニ 根据步骤一所得到的两个复杂网络的节点集来分别计算两个复杂网络的四种特征參数节点度、节点介数、节点聚类系数、节点平均路径长度，在对每个节点的特征參数均进行计算后，得到四种特征參数的数据集；步骤三根据步骤ニ所得的两个复杂...
【技术保护点】
一种电路物理设计相似度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤一：将需对比的两个电路原理图中的各个元件或功能模块及其之间的连接抽象成复杂网络，以得到两个电路原理图相应的复杂网络的节点集V、V“；步骤二：根据步骤一所得到的两个复杂网络的节点集来分别计算两个复杂网络的四种特征参数：节点度、节点介数、节点聚类系数、节点平均路径长度，在对每个节点的特征参数均进行计算后，得到四种特征参数的数据集；步骤三：根据步骤二所得的两个复杂网络的网络特征参数的数据集来分别计算特征参数的累积分布，并将两个复杂网络的特征参数的累积分布进行Kolmogorov–Smirnov对比测试以得到最大垂直偏差的标准统计量；步骤四：根据步骤三中累积分布K?S测试所得的最大垂直偏差的标准统计量来计算电路物理设计的相似度。
【技术特征摘要】
1.一种电路物理设计相似度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤， 步骤一将需对比的两个电路原理图中的各个元件或功能模块及其之间的连接抽象成复杂网络，以得到两个电路原理图相应的复杂网络的节点集V、V’ ； 步骤二 根据步骤一所得到的两个复杂网络的节点集来分别计算两个复杂网络的四种特征参数节点度、节点介数、节点聚类系数、节点平均路径长度，在对每个节点的特征参数均进行计算后，得到四种特征参数的数据集； 步骤三根据步骤二所得的两个复杂网络的网络特征参数的数据集来分别计算特征参数的累积分布，并将两个复杂网络的特征参数的累积分布进行Kolmogorov - Smirnov对比测试以得到最大垂直偏差的标准统计量； 步骤四根据步骤三中累积分布K-S测试所得的最大垂直偏差的标准统计量来计算电路物理设计的相似度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步骤一中所述的的抽象的方法为，将电路...
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